Dragonfly 蜻蜓系列 光譜儀

DragonFly 蜻蜓系列光譜儀, DF系列光譜儀, OtO Photonics 代理, 凱宏科技, TEMPOint, 超高解析度微型光譜儀, 專利不對稱光路, 口袋型光譜分析, ATE 高速量測, 膜厚檢測, 雷射波長量測

DragonFly 蜻蜓系列高解析度光譜儀

DragonFly 系列：超高解析度超微型光譜方案
HIGH RESOLUTION ULTRA-MICROSCOPE SPECTROMETER

DragonFly 蜻蜓系列光譜儀
(DF 系列超微型與高解析度光譜量測系統)

搭載高感度一維線性 CMOS 感測器與 32-bit RISC 微處理器，DragonFly (DF) 蜻蜓系列 採用了極具突破性的專利傾斜反射鏡不對稱光路設計（Czerny-Turner 變體）。這項創新的光學架構成功在 1/4 張名片大小（僅 55.4 x 46.5 mm）的超微型機身內，壓榨出媲美常規中大型光譜儀的高光譜解析度（FWHM 最小可達 0.5 nm）。是手持式精密分析儀、雷射波長量測、半導體膜厚檢測及緊湊型工業 ATE 產線點位部署的終極利器。

⭐ 核心優勢：專利不對稱光路突破體積局限，在超掌上型緊湊空間內提供令人驚豔的高光譜解析度。

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產品核心特色 (Key Features)

  • ✅
    創新專利高解析光路： 獨家非對稱傾斜反射鏡設計，優化光學像差，在 55.4 x 46.5 mm 的極致空間內實現高解析度光譜分析。
  • ✅
    多機並聯同步觸發： 提供靈活的硬體觸發控制介面（Hardware Triggering Mode），具備超低時鐘抖動（Jitter），完美適應 ATE 高速自動化多點同步擷取。
  • ✅
    大容量動態暫存區： 內建多重曝光光譜資料深層緩衝記憶體（Deep Buffer Memory），最高可暫存多達 4,000 筆完整光譜數據，確保高速連續量測時傳輸穩定不掉幀。
  • ✅
    工業級二次開發 SDK： 隨附完整的 Windows/Linux 跨平台 SDK，包含專屬微控制器 API 函數庫（UAI），支援 C#、C++、Python、LabVIEW 底層無縫交握。
DragonFly (DF) 系列技術規格 (Specifications)
感測器像素 (Sensor) 高感度一維線性 CMOS 感測器（可組配 2048 像素 或 4096 像素規格）
適用光譜範圍 180 ~ 1100 nm (可客製化不同高密度平面光柵，滿足特定紫外/可見/近紅外精密波段)
光學系統架構 專利不對稱傾斜反射鏡 Czerny-Turner 變體光路 ｜ 低雜散光（< 0.5% @ 400nm）
光學分辨率 (FWHM) 0.5 nm ~ 9.5 nm (依據出廠搭配之入光狹縫寬度與光柵線數密度而定)
熱穩定性表現 優異的抗溫漂光學控制：< 0.04 nm/°C，確保在機台高發熱環境下的長期波長精準度
積分時間與資料轉換 0.2 ms ~ 65 sec ｜ 內建 16-bit A/D 轉換器
通訊與 I/O 擴充 USB 2.0 高速傳輸 ｜ 隨附 8-pin 外部功能埠（支援 6 個一般數位 I/O 腳位，含外部硬體觸發）
外觀物理尺寸 • 機身尺寸：55.4 x 46.5 x 34.5 mm
• 光纖接口：標準 SMA905 光纖接頭
※ 產品規格、入光狹縫與光柵配置可根據客戶設備結構提供高度客製化設計。規格如有修改，恕不另行通知。

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🔍 技術資源索引 (Technical Index)：

DragonFly 蜻蜓系列
DF 系列光譜儀
專利不對稱光路
高解析度微型光譜儀
多機並聯同步觸發
工業 ATE 機台整合
OtO Photonics 代理

SideWinder 響尾蛇系列 光譜儀

SideWinder 響尾蛇系列光譜儀, SW系列光譜儀, 近紅外光譜儀, NIR InGaAs Spectrometer, OtO Photonics 代理, 凱宏科技, TEMPOint, SW2520, SW2560, SW2570, SW28X0, SW29X0, 食品成分分析, 藥品鑑定, 薄膜厚度量測

SideWinder 響尾蛇系列近紅外光譜儀

SideWinder 系列：高穩定性近紅外 (NIR) 光譜方案
HIGH STABILITY NEAR-INFRARED (NIR) SPECTROMETER

SideWinder 響尾蛇系列光譜儀
(SW 系列高增益、高信噪比近紅外光譜量測系統)

專為近紅外線（Near-Infrared）長波長精密分析所設計，SideWinder (SW) 響尾蛇系列 採用標準不對稱 Czerny-Turner 光學設計，搭載高效能 InGaAs 線性陣列感測器 與 32-bit RISC 微處理器。本系列光學機台結構極為剛強穩固，具備極佳的抗溫濕度變漂（Thermo-hygro variation）、抗震動（Vibration）與抗衝擊能力，可組配主動式致冷（TE-Cooling）元件。這項優異的物理特性，使其在維持精準的解析度與波長再現性的同時，仍保有便於系統整合的緊湊體積，是生化分析、食品藥品檢測及薄膜厚度量測的旗艦首選。

⭐ 核心優勢：嚴謹的光機結構在面對嚴苛工業溫濕度變化或震動環境時，依然能展現近乎零溫漂的極致光譜穩定度。

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產品核心特色 (Key Features)

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    全方位近紅外波段覆蓋： 標準波段涵蓋 900 ~ 1700 nm（SW 5 及 SW 8 致冷系列），更可透過客製化升級至最高 900 ~ 2500 nm（SW 9 系列），全面對應有機物與化學光譜特徵峰。
  • ✅
    雙增益感應模式（High / Low Gain）： 內建兩種靈敏度模式供自由切換。高增益（High Gain）模式下的平均靈敏度可提升高達 10 至 18 倍，完美捕捉極其微弱的近紅外反射訊號。
  • ✅
    內建大容量環形暫存區： 具備 Deep Buffer 內部儲存體，最高可連續暫存 4,000 筆光譜。支援 24/7 自動化高速產線的高頻率同步觸發量測，讀取不掉幀。
  • ✅
    高彈性整合與功能擴充： 全系列採 USB 供電通訊，提供 8-pin 外部擴充介面（含 6 個獨立數位 I/O 腳位及硬體同步觸發）。可因應量測需求選配內建光學快門（Entrance Shutter），自動執行背景暗電流扣除。
SideWinder (SW) 系列技術規格 (Specifications)
感測器類型 (Sensor) 高感度高信噪比 InGaAs 線性陣列感測器（可依型號配置 128 / 256 / 512 像素）
光譜量測波段 • SW 5 / 8 系列：900 ~ 1700 nm
• SW 9 致冷系列：910 ~ 2200 nm 或 900 ~ 2500 nm
光學系統架構 標準不對稱 Czerny-Turner 光學設計 ｜ 具備獨家低雜散光校正技術
光學分辨率 (FWHM) 約 2 nm ~ 22 nm（依據出廠選配之入光狹縫寬度 10~300µm、感測器及光柵線數密度而定）
信噪比 (SNR) 表現 單次量測最高可達 2000 ~ 5400（依 High / Low Gain 模式與感測器晶片規格而異）
積分時間控制 • SW 5 / 8 系列：100 μs ~ 15 秒 或 24 秒
• SW 9 系列：100 μs ~ 200 毫秒 / 3000 毫秒（依原廠感測器參數限制）
通訊與 I/O 擴充 USB 2.0 高速傳輸 ｜ UART 介面 ｜ 隨附 8-pin 外部功能埠（支援外部硬體觸發控制）
光纖接口與安全須知 標準 SMA905 光纖接頭
⚠️ 注意：鎖固光纖時請以手旋緊即可，請勿使用工具扳手，以免狹縫受壓迫受損。
※ 備註：SW系列提供專屬工業級二次開發 SDK（隨附跨平台函數庫），完美支援 C#、C++、Python、LabVIEW 底層自動化開發與機台交握。

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SideWinder 響尾蛇
SW 系列光譜儀
InGaAs 線性陣列感測器
近紅外線 (NIR) 量測
雙增益模式切換
TE致冷光譜儀
OtO Photonics 代理

RedBullet 紅色子彈系列 光譜儀

Red Bullet 紅色子彈系列光譜儀, RB系列光譜儀, 近紅外微型光譜儀, NIR InGaAs Spectrometer, OtO Photonics 代理, 凱宏科技, TEMPOint, RB4524, RB4564, 凹面反射鏡設計, 微型光譜分析, VCSEL測試, LIDAR整合

Red Bullet 紅色子彈系列近紅外微型光譜儀

Red Bullet 系列：極致微型的近紅外 (NIR) 量測利器
ULTRA-COMPACT NEAR-INFRARED (NIR) SPECTROMETER

Red Bullet 紅色子彈系列光譜儀
(RB 系列微型低功耗、高感度近紅外光譜分析系統)

專為近紅外線（Near-Infrared）自動化產線整合與長波長精密分析所設計，Red Bullet (RB) 紅色子彈系列 微型光譜儀打破傳統近紅外光譜儀體積龐大的限制。本系列採用創新的凹面反射鏡 Czerny-Turner 光學設計與獨家二階、三階光排除技術，大幅優化光機結構，使機身縮減至僅有 50 x 36.4 x 28.4 mm 的極致尺寸。內部搭載高效能 InGaAs 線性陣列感測器與 8-bit 微處理器，結合外置控制板設計，展現極佳的低功耗優勢與熱穩定性，是工業產線自動化機台整合、LIDAR、VCSEL 測試以及光纖傳輸系統開發的完美首選。

⭐ 核心優勢：極致微型的機體架構結合控制板外置設計，在提供優異近紅外光譜響應的同時，能毫無負擔地整合進各式空間受限的自動化設備中。

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產品核心特色 (Key Features)

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    極致微型與工業機台友善： 體積僅 50 x 36.4 x 28.4 mm，搭配機身外部穩固的系統安裝孔位，方便機構工程師將其快速且精準地鎖固於自動化 ATE 機台內。
  • ✅
    雙增益感應模式（High / Low Gain）： 支援動態雙增益切換，在 High Gain 模式下能將訊雜比 (SNR) 提升至 2500~3000，精準捕捉極其微弱的近紅外反射或漫散射訊號。
  • ✅
    極寬積分時間控制（6 µs ~ 24 秒）： 憑藉卓越的時序控制晶片，提供低至 6 微秒的高速曝光，能有效防止強光飽和；亦可延長至 24 秒，大幅提升對極暗環境光譜的量測能力。
  • ✅
    8-pin 豐富的硬體同步觸發： 後方配備 8-pin 1.0mm 擴充埠，內建 6 個可由軟體定義的數位 I/O 腳位，完美支援單次脈波觸發（Single Pulse Trigger）與燈源開關控制（LS_ON）。
  • ✅
    隨插即用與內建校正： Micro USB 2.0 介面完全由電腦供電（低功耗 500mA），內建 Flash ROM 自動儲存出廠之波長校正、線性校正與強度校正係數，實現高精度交握。

📊 產品型號與感測器配置 (Model Selection)

型號 (Model) 感測器類型 (Sensor) 光學解析度 (狹縫 50µm) 訊雜比 (SNR, H/L Gain) 動態範圍 (Dynamic Range)
RB4524 128 pixel InGaAs < 15 nm 3000 / 6700 7300 / 9300
RB4564 256 pixel InGaAs < 12 nm 2500 / 6500 6500 / 8200
Red Bullet (RB) 系列技術規格 (Specifications)
光譜量測波段 900 ~ 1700 nm
光學系統參數 f/#: 4.5 ｜ 數值孔徑 NA: 0.11
光學系統架構 新型凹面反射鏡 Czerny-Turner 光學結構 ｜ 內建獨家二階、三階光排除濾光技術
入口狹縫寬度 (Slit) 出廠可選配：25 µm、50 µm、100 µm
A/D 類比數位轉換 高精度 16 bit, 15 MHz 類比數位轉換器
系統出廠基線 強度預設維持 1,000 counts 基準（亦支援 AFE OFFSET 指令修改或透過軟體直接執行背景暗電流扣除）
通訊與 I/O 介面 Micro USB 2.0 高速傳輸 ｜ UART 介面 ｜ 隨附後方 8-pin 1.0mm 外部功能擴充埠
外觀尺寸與溫濕度 50 (L) x 36.4 (W) x 28.4 (H) mm
操作溫度：0°C to +50°C ｜ 儲存溫度：-30°C to +70°C（環境相對濕度 0%-90% 無冷凝）
光纖接口與安全規範 標準 SMA905 光纖接頭
⚠️ 關鍵注意 (1)：鎖固光纖時，請以「手旋緊」即可，嚴禁使用工具（如扳手）強行加壓，以免精細狹縫受外力壓迫而造成結構損壞。⚠️ 關鍵注意 (2)：請務必確認搭配之光纖插芯機械長度（Ferrule Length）最長「不得超過 9.812 mm」，插芯過長將直接頂破內部核心狹縫，此人為受損不納入原廠保固。
※ 備註：RB系列提供專屬工業級二次開發 SDK（隨附跨平台函數庫），包含開機指令（UAI_SpectrometerOpen）與數據擷取（UAI_SpectrometerDataAcquire），完美支援 C#、C++、Python、LabVIEW 自動化開發。

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🔍 技術資源索引 (Technical Index)：

Red Bullet 紅色子彈
RB 系列微型光譜儀
凹面反射鏡光學結構
低功耗微處理器
6 µs 高速曝光控制
自動化機台 ATE 整合
OtO Photonics 代理

MeGrez / MeGrez-NIR 北斗七星-天權系列 光譜儀

Megrez 天權系列光譜儀, Megrez-NIR, MG系列光譜儀, 超高解析度致冷光譜儀, TE-Cooled Spectrometer, OtO Photonics 代理, 凱宏科技, TEMPOint, TRT光學設計, 葉綠素螢光量測, Laser Diode測試, VCSEL檢測

Megrez 天權系列超高解析度致冷型光譜儀

Megrez 系列：專為雷射、VCSEL 與螢光分析打造的超高解析致冷利器
TE-COOLED HIGH-RESOLUTION SPECTROMETER

Megrez & Megrez-NIR 天權系列光譜儀
(MG & MG-NIR 系列超高解析度熱電致冷光譜分析系統)

專為追求極致光學解析度與長時間量測穩定性的前瞻實驗室及晶圓級產線所設計，Megrez & Megrez-NIR (MG & MG-NIR) 天權系列 光譜儀代表了微型光譜結構的高階突破。本系列採用先進的穿透反射式 TRT-Czerny-Turner 光學設計，搭配精密的硬體結構，能有效抑制雜散光並提供卓越的抗震性。系統核心搭載高效能 CCD (VIS) 或 InGaAs (NIR) 線性陣列感測器，並全面整合高階熱電致冷 (TE-Cooling) 技術，將感測器溫度穩定控制，大幅降低暗電流噪訊。結合 32-bit RISC 微處理器架構，展現出高光學解析度、極高訊雜比與超快光譜反應速度，非常適合應用於葉綠素螢光 (VIS)、Laser Diode 雷射二極體檢測、VCSEL 3D感測元件、LED 測試以及各種高靈敏度的微弱光譜分析場景。

⭐ 核心優勢：TRT 獨家光學結構實現超高光學解析度，結合熱電致冷 (TE-Cooled) 技術，在長時間積分量測或微弱雷射波長動態監測下，依然保持完美的熱穩定性與極低雜訊。

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產品核心特色 (Key Features)

  • ✅
    穿透反射式 TRT 光學設計： 具備長焦距聚焦能力，在高密度光柵配置下能提供極佳的半高寬解析度（FWHM 可達 <0.1nm ~ <0.35nm），完美分辨狹窄的雷射模式與發射主峰。
  • ✅
    感測器熱電致冷降噪 (TE-Cooling)： 內建精密晶片致冷模組，可有效抑制長時間曝光下的暗電流（Dark Noise 僅 6.5 ~ 16 counts），在漫反射、生物螢光等暗場量測中展現超高感度。
  • ✅
    32-bit RISC 高速硬體控制： 升級 32 位元 RISC 微控制器，大幅優化光譜數據讀取速度與 Sensor 觸發時序整合，實現毫秒級（0.1 ms ~ 24s）超彈性積分曝光時間調整。
  • ✅
    雙增益調變模式（High / Low Gain）： 提供 5000 ~ 10000 的超高動態範圍，硬體線路上可根據入射光強弱隨時彈性切換，在大功率雷射與微弱側模雜訊分析中取得完美平衡。
  • ✅
    豐富的工業系統 I/O 週邊： 後方提供 8-pin 介面，支援外部多種時序觸發與燈源同步開啟（LS_ON），滿足工業 ATE 自動化產線機台的動態即時同步聯動量測。

📊 產品型號與感測器配置 (Model Selection)

系列型號 (Model) 適用光譜範圍 感測器配置 (Image Sensor) 典型光學解析度 (FWHM) 致冷功能 (TE-Cooled)
Megrez (MG系列) 180 ~ 1100 nm (UV-VIS) 2048 pixel 高解析 CCD / 背照式 CCD < 0.1 ~ 0.35 nm (依狹縫及光柵而定) 標準配備
Megrez-NIR (MG-NIR系列) 900 ~ 1700 nm (NIR) 512 pixel 高感度 InGaAs 感測器 < 0.25 ~ 0.5 nm (依狹縫及光柵而定) 標準配備
Megrez (MG) 系列技術規格 (Specifications)
光學孔徑與數值孔徑 Aperture (f-number): f/5 ｜ 數值孔徑 NA: 0.1
光學系統架構 穿透反射式 TRT-Czerny-Turner 光學設計 ｜ 內建高抗震高熱穩定硬體光學平台
入口狹縫與光柵配置 出廠可選狹縫：5 µm、10 µm、25 µm ｜ 可彈性配置多元線條數光柵（如 600g、1000g、1200g、2400g/mm 等）
A/D 類比數位轉換 高階高精度 16 bit 類比數位轉換器
訊雜比與動態範圍 訊雜比 (SNR): 500 ~ 4900 (依 High/Low Gain 切換) ｜ 動態範圍: 5000 ~ 10000
暗電流噪訊基準 在 TE-Cooling 運作下，Dark Noise 穩定維持在極低之 6.5 ~ 16 counts
通訊與 I/O 介面 USB 2.0 高速傳輸 (480 Mbps) ｜ UART 介面 ｜ 隨附 8-pin 外部硬體功能與多機同步擴充埠
外觀尺寸與光纖接口 199 (L) x 170 (W) x 64.5 (H) mm
光纖接口：標準 SMA905 或 FC/PC 或 FC/APC 介面
運作環境與精密規範 操作溫度：0°C to +50°C ｜ 儲存溫度：-30°C to +70°C（環境相對濕度 0%-90% 無冷凝）
❄️ 致冷防潮注意：本系列光譜儀具備高階熱電致冷功能，量測時請務必確保環境無高濕冷凝現象，以防水分在 Sensor 表面結霜損壞精密晶片。⚠️ 光纖鎖固注意：鎖固外部光纖時，請一律以「手旋緊」鎖固即可，切勿使用外部金屬工具（如扳手）強行過度加壓，以免精細入口狹縫受外力推擠變形。⚠️ 插芯長度注意：請務必搭配合規插芯機械長度（Ferrule Length）之光纖，插芯若過長插入時將直接頂破核心狹縫結構（此人為損壞不在原廠保固內）。
※ 備註：天權 MG/MG-NIR 系列隨附完整的跨平台 SDK 軟體開發套件（全面支援 Windows C#、C++、Python、Linux 開發環境以及專屬的 LabVIEW 控制驅動庫 APIs），可快速實現開機（`UAI_SpectrometerOpen`）與高靈敏度光譜讀取。

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🔍 技術資源索引 (Technical Index)：

Megrez 天權系列
MG & MG-NIR 光譜儀
TRT 穿透反射式光學
熱電致冷 TE-Cooling
雷射二極體與VCSEL檢測
超高解析度光譜分析
OtO Photonics 代理

Dubhe 北斗七星-天樞系列 光譜儀

Dubhe 天樞系列光譜儀, DB系列光譜儀, OCT光譜儀, 光學同調斷層掃描, 穿透式光柵光譜儀, VPH Grating, 超高解析度光譜儀, OtO Photonics 代理, 凱宏科技, TEMPOint, 高速CMOS相機, 80kHz光譜儀, 生醫影像造影, 眼底視網膜檢測

Dubhe 天樞系列 OCT 專用高速穿透式光譜儀

Dubhe 系列：專為生醫 OCT、眼底斷層造影與高速晶圓檢測打造的超高解析利器
OCT-DEDICATED HIGH-SPEED THROUGH-TYPE SPECTROMETER

Dubhe 天樞系列穿透式光譜儀
(DB 系列高解析度 / 超高速 OCT 專用光學量測系統)

專為生醫影像斷層掃描、眼科精細檢測以及精密半導體晶圓級高頻量測所設計，Dubhe 天樞系列 (DB 系列) 光譜儀是針對 OCT (光學同調斷層掃描) 高解析度與高感度需求研發的旗艦機種。本系列革命性地採用全穿透式 Czerny-Turner 光學設計，核心整合積體相位全像光柵 (Volume Phase Holographic Grating, VPH Grating)、高精密準直與聚焦鏡頭，能有效消除傳統反射光路的離軸像差，展現極低雜散光與優異的通光靈敏度。系統運用專利優化調校機構，可達成極致的 0.04 nm 超高光學解析度。在相機模組方面，出廠可彈性選配 80 kHz 或 20 kHz 的超高速線性 array CMOS 感測器，動態範圍高達 69 dB，能夠在微秒級時序內完美捕捉並輸出微弱光譜信號，特別適合眼底視網膜影像、非侵入式皮膚組織病症分析、以及非接觸式工業薄膜斷層量測。

⭐ 核心優勢：全穿透式 VPH 光學結構實現 0.04nm 超解析度，搭配高達 80 kHz 的光譜刷新率，在毫米級深度範圍內能提供微米級（µm）的橫向縱向非接觸高精度斷層造影。

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產品核心特色 (Key Features)

  • ✅
    積體相位全像穿透式光柵 (VPH Grating)： 相較傳統刻線光柵，VPH 光柵在特定角度下擁有更高的繞射效率與低偏振敏感度，大幅提升微弱斷層回波的感度。
  • ✅
    極致微米級光學解像力： 結合專利優化調校機構，光學解析度可精確達到 0.04nm，可提供優異的深度演算法對比，彌補超音波與磁振造影(MRI)解析度的不足。
  • ✅
    80 kHz / 20 kHz 超高速行掃掃描： 內建高階高速相機模組，專為即時影像重構（Real-time Reconstruction）與高頻工業自動化產線 ATE 檢測系統聯動所設計。
  • ✅
    高動態與絕佳訊噪比： 具備 69 dB 動態範圍與 51 dB 訊噪比 (SNR)，10 x 200 µm 像素尺寸能完整捕捉光譜微小干涉條紋，輸出高品質灰階數據。
  • ✅
    台灣自主研發精密結構： 所有關鍵光學系統如分光、聚焦、準直設計及定位銷定位技術均由台灣自行研發設計，機體抗震性能優異。

📊 產品型號與感測器配置 (Model Selection)

系列型號 (Model) 適用光譜範圍 相機速度版本 (Line Rate) 動態範圍 / 訊噪比 像素尺寸 / 位元深度
DB1020F 800 ~ 880 nm (NIR T1) 20 kHz 69 dB ｜ 51 dB 10 x 200 µm ｜ 10, 11, 12 bit
DB1080F 800 ~ 880 nm (NIR T1) 80 kHz (超高速版) 69 dB ｜ 51 dB 10 x 200 µm ｜ 10, 11, 12 bit
Dubhe (DB) 系列技術規格 (Specifications)
核心光學設計 全穿透式 Czerny-Turner 光學設計 ｜ 內建高精密準直與聚焦鏡頭光路
分光元件規格 積體相位全像穿透式光柵 (Volume Phase Holographic Grating)
極致光學解析度 最高可達 0.04 nm (搭配專利優化調校機構技術)
感測器像素配置 2048 Pixels 線性高速 CMOS 陣列相機模組
系統供電與基本控制 光譜儀架構支援 USB 直接供電並可由 USB 連接電腦進行光譜基本通訊
波長校正與演算法 內建專屬高端波長校正演算法，隨附專屬調校校正參數檔
外觀機構與光纖接口 隨附精準定位銷(Dowels pins)等高可靠度工業定位組件設計
輸入光纖接口：標準高品質 SMA905 機構接口
工業系統整合防護規範 ⚡ 高速頻寬注意：由於 80 kHz / 20 kHz 版本數據通訊極快，整合系統端請務必選用符合原廠規格之高速通訊介面(如專用 Camera Link 或相機模組指定引腳)，並參考 SDK PIN 腳圖配置。
⚠️ 光纖鎖固注意：鎖固外部 SMA905 光纖接頭時，請一律以「手旋緊」鎖固，切勿使用老虎鉗或扳手強行過度轉動，以防精密分光入口結構受到外力應力形變。
⚠️ 插芯長度限制：請搭配合規標準插芯機械長度的光纖，嚴禁插入過長之客製非標插芯，以免機械頂撞直接損壞內部核心狹縫系統（此為人為損壞，不在原廠保固範圍之內）。
※ 備註：天樞 DB 系列隨附功能強大的高速相機軟體開發套件 (SDK)，全面支援多平台 APIs 開發環境，並可完美串接自動化量測系統與專屬 LabVIEW 控制驅動庫，可實現開機通訊與微秒級即時光譜波形調取。

正在尋找適用於生醫 OCT 造影或高速自動化光學量測的系統？

凱宏科技 (TEMPOint) 擁有豐富的自動化光量測、高速訊號調取與生醫/工業光學系統整合實績，為您提供最專業的軟硬體整合與客製化開發諮詢。

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🔍 技術資源索引 (Technical Index)：

天樞 Dubhe 系列
DB 系列光譜儀
OCT 光學同調斷層掃描
VPH 積體相位全像光柵
80 kHz 高速 CMOS
0.04nm 超高解析度
OtO Photonics 代理

Phekda 北斗七星-天璣系列 光譜儀

Phekda 天璣系列光譜儀, PD系列光譜儀, PD-NIR近紅外光譜儀, LIBS雷射誘導擊穿光譜, 拉曼拉曼光譜, Raman應用, VCSEL量測, 1550nm量測, 台灣超微光學, OtO Photonics 代理, 凱宏科技, TEMPOint, 高光學解析度, 工業自動化量測, 2048像素CCD, 高速快門控制

Phekda 天璣系列高解析度工業光譜儀

Phekda 系列：專為 LIBS 元素分析、Raman 檢測與 VCSEL 雷射量測開發的旗艦級光學系統
HIGH-RESOLUTION INDUSTRIAL LIBS / RAMAN / VCSEL SPECTROMETER

Phekda 天璣 / 天璣近紅外系列光譜儀
(PD & PD-NIR 系列高精度工業級光學量測系統)

專為自動化精密量測與光譜分析研發，Phekda 天璣系列 (PD & PD-NIR 系列) 是 OtO 針對高端工業、生醫與材料科學推出的旗艦機種。天璣系列特別針對 LIBS (雷射誘導擊穿光譜) 的極快動態時序、Raman (拉曼應用) 的微弱散射光，以及 VCSEL 雷射二極體 (例如 1522~1578nm 高頻寬通訊波段) 測試進行深度優化。本系列採用強化的光學分光架構，在特定的短波段內可實現 < 0.1 nm 的極致高光學解析度（搭配10µm狹縫）。系統架構支援 2048 像素 CCD 感測器與微秒級高速快門控制，並具備全客製化波段服務，可靈活跨足可見光（400~1000nm）與近紅外（900~1700nm）光域，隨附專業的波長校正演算法及出廠調校參數，能完美聯動多平台自動化 ATE 量測產線。

⭐ 核心優勢：專屬 LIBS、Raman 與 1550nm 雷射應用的超高解析度設計，支援高速外部硬體同步觸發，完美滿足晶圓級高速 LIV 測試與精密物質材料分析。

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產品核心特色 (Key Features)

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    極致微米級光學解像力： PD-V25 & PD-V30 配置 10µm 狹縫時，解析度可達到 < 0.1nm，精準捕捉 LIBS 電漿激發原子譜線或拉曼尖銳位移特徵。
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    特製應用波段配置： 針對 VCSEL 雷射量測專門開闢 1522~1578nm 的窄波段（PD-NIRQ 版本），以 0.25nm 的解像力支援半導體高速光學 ATE 測試。
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    高靈敏 CCD / 寬頻感測器支援： 內建高感度 2048 像素線陣感測器，低雜散光、高線性度，能精準擷取高動態與微弱干涉光譜。
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    優異的硬體整合通訊： 機體後側整合精密的 PC USB 與後外接頭（GPIO），可靈活配置時序與提供 5V 電源給外接雷射或切換開關。
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    台灣自主研發抗震結構： 分光系統、機體核心結構部件及內部機構定位技術，皆具備優異的環境抗震性能與耐用度。

📊 典型版本與光學解析度配置 (Model & Resolution Selection)

型號/光學晶片版本 專屬應用 / 客製波段範圍 狹縫寬度規格 (Slit) 光學解析度 (Resolution) 感測器像素 (Sensor)
PD-V25 / PD-V30 LIBS 電漿 ｜ Raman 拉曼應用 ｜ 535~565 / 535~650nm 10 µm < 0.1 nm (超高解析) 2048 Pixels CCD
PD-V32 PD-VIS 可見光波段客製 ｜ 可選 400 ~ 1000 nm 25 µm < 0.35 nm 2048 Pixels CCD
PD-NIRQ (天璣近紅外) VCSEL 雷射高速量測應用 ｜ 1522 ~ 1578 nm 10 µm < 0.25 nm 高寬頻近紅外線性感測器
Phekda (PD & PD-NIR) 系列技術規格 (Specifications)
核心光學與分光架構 OtO 專利微型高解析分光光路設計 ｜ 內建高速精密微秒級快門機構
光域客製化範疇 PD-VIS 可見光機型：400 ~ 1000 nm ｜ PD-NIR 近紅外機型：900 ~ 1700 nm
基本控制與供電機制 支援 PC USB 介面直接通訊與供電，提供高速微秒級即時光譜波形輸出
波長調校演算法 出廠隨附高階專屬波長校正調校參數檔，內建高線性度補償修正機制
外觀結構與光學輸入 標準精準工業定位銷(Dowels pins)組件孔位設計
輸入光纖接口：標準高品質 SMA905 機構接口
工業系統整合防護規範 ⚡ GPIO 引腳配置：機體後側配備 PC USB 與外接頭引腳。當使用 USB 連結電腦時，Pin 1 可輸出約 5V / 0.1A 電源供外接微型裝置使用。GPIO 操作電壓嚴格限定於 VIL(max)=0.8V、VIH(min)=2.0V 區間，絕對輸入電壓為 -0.3V 至 5.5V，請遵循原廠 SDK 手冊 PIN 腳圖配置，嚴禁超壓輸入。
⚠️ 光纖鎖固安全：與外部 SMA905光纖接頭對接鎖固時，請務必一律以「手旋緊」方式進行固定。嚴禁使用扳手、老虎鉗等機械工具施加過度扭力，以防止內部分光狹縫入口結構因外部應力產生機械形變。
⚠️ 插芯機械限制：請務必搭配合規標準插芯機械長度的光纖。嚴禁插入客製化非標過長之插芯，避免機械頂撞直接撞擊損壞內部核心分光與狹縫系統（此人為碰撞損壞不在保固範圍之內）。
※ 備註：天璣 Phekda 系列隨附功能強大的軟體開發套件 (SDK) 與 APIs，全面支援高頻自動化產線整合，並能完美支援客製化 LabVIEW 控制驅動庫與通訊調取。

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📥 規格說明書下載 (PDF)

🔍 技術資源索引 (Technical Index)：

天璣 Phekda 系列
PD / PD-NIR 光譜儀
LIBS 雷射誘導擊穿光譜
Raman 拉曼光譜應用
VCSEL 雷射 LIV 量測
0.1nm 超高解析度
OtO Photonics 代理

Merak 北斗七星-天璇系列 光譜儀

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Merak 天璇系列高解析度光譜儀

Merak 系列：專為 VCSEL 量測、雷射二極體與 3D 感測開發的超高解析穿透式光學系統
ULTRA-HIGH RESOLUTION TRANSMISSIVE SPECTROMETER FOR VCSEL & LD

Merak 天璇系列高解析度光譜儀
(MR 系列工業級高速穿透式光學量測系統)

專為次世代半導體雷射與自動化光學 ATE 產線量身打造，Merak 天璇系列 (MR 系列) 是 OtO Photonics 針對高端半導體量測推出的超高解析度旗艦機種。Merak 系列採用創新的全面穿透式光學分光架構 (Fully Transmissive Optical Design)，搭配專利微調校準機構，在 830~970 nm 的核心波段內，能實現 < 0.1 nm 的極致高光學解析度（搭配 5µm 狹縫，最優可達 0.07nm 級別）。系統配備了 4096 像素的高速線陣 CMOS 感測器與 32-bit RISC 微控制器，具備超高速連續曝光能力與極佳的動態範圍，能精準捕捉 VCSEL、雷射二極體 (Laser Diode) 的尖銳發射譜線與功率調變，完美聯動晶圓級與封裝級高速 LIV 量測。

⭐ 核心優勢：專利穿透式 Czerny-Turner 光路與 4096 像素高速 CMOS 完美融合，低雜散光、超高精準度，是 VCSEL 與 3D Sensing 精密檢測的首選方案。

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產品核心特色 (Key Features)

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    極致 < 0.1nm 光學解像力： 標準配置 5µm 狹縫時，於 850nm 及 940nm 附近解析度可達 < 0.1nm (甚至達到 0.076nm)，精準捕捉 VCSEL 縱模特徵與半值寬 (FWHM)。
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    特製全面穿透式光路： 採用特殊穿透式光學架構與高線數光柵（1500 grooves/mm @ 930nm），帶來低色散、高線性度與超低雜散光性能。
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    4096 像素高速 CMOS： 搭載高速長線陣型感測器，曝光時間最快可達 100 µs，支援超高精密、高速無間斷連續曝光擷取。
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    獨家雜散光校正演算法： 內建 OtO 專利雜散光校正技術，將系統雜散光降至 0.01% 的優異水準，大幅提高光譜量測的信賴度與動態範圍（2200:1）。
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    高度彈性客製化服務： 支援 different 線數的穿透式光柵換裝，可在 180~1100 nm 範圍內針對客戶特定應用的窄波段進行解像力與範圍優化。

📊 典型版本與光學解析度配置 (Model & Wavelength Selection)

標準型號 版本 標準波段範圍 狹縫規格 (Slit) 光學解析度 (Resolution) 感測器規格 (Sensor)
MR1080 830 ~ 970 nm (專屬 VCSEL / 3D Sensing 測試波段) 5 µm < 0.1 nm (FWHM)
(實測達 0.07 – 0.11 nm)		 4096 Pixels 高速 CMOS
MR-Custom 180 ~ 1100 nm 區間內客製化窄波段 可客製 (10/25 µm等) 依光柵與狹縫配置而定 4096 Pixels 高速 CMOS
Merak (MR) 系列技術規格 (Detailed Specifications)
核心光學分光架構 全面穿透式 Czerny-Turner 光路設計 ｜ 內建獨家專利精密微調校準機構
標準內置光柵規格 高線數穿透式光柵：1500 grooves/mm @ 930nm
核心晶片與通訊介面 內建 32-bit RISC 微處理器 ｜ 高速大容量內存 ｜ USB 2.0 (High Speed) / UART 介面
積分時間 (Exposure Time) 100 µs ~ 24 seconds ｜ 支援高速超精密連續動態曝光量測（最高 4,000 筆光譜快取）
光學性能特徵參數 訊噪比 (SNR)：350 ｜ 動態範圍 (Dynamic Range)：2200:1 ｜ 暗雜訊 (Dark Noise)：18 RMS
光圈數：f/# 5.0 ｜ 數值孔徑 (NA)：0.1
外觀結構與光學輸入接口 機體外觀尺寸：230 (L) x 170 (W) x 60 (H) mm ｜ 機身配備整合型 LED 狀態指示燈
輸入光纖接口：標準高品質 SMA905 或 FC/PC 機構接口
工業系統整合防護規範 ⚡ GPIO 系統整合：機體後側配備 8-pin 外部擴充 I/O 連接埠，包含 6 組數位 GPIO 引腳，可完全支援外部硬體自動化觸發訊號同步（請遵循 SDK 原廠接線說明，嚴禁超壓輸入）。
⚠️ 光纖對接安全性：與外部 SMA905 / FC/PC 光纖接頭對接時，請務必一律以「手旋緊」方式輕鎖固定。嚴禁使用扳手、機械老虎鉗等強力工具施加過大扭力，以防外部應力導致內部微米級分光狹縫（5µm）結構產生微小機械形變，影響光譜準確度。
⚠️ 插芯長度限制：請務必搭配原廠認證合規之標準長度光纖插芯，切勿強行插入客製非標過長之光纖插芯，以免機械性撞擊並損壞內部高精密核心分光與狹縫系統（此碰撞造成損壞屬人為操作不當，不在保固範疇內）。
※ 備註：Merak 天璇系列隨附功能強大的軟體開發套件 (SDK) 與 APIs（全面支援 Windows 環境，並提供 Linux 範例程式碼），可完美支援客製化 LabVIEW 控制驅動庫、高速自動化產線 ATE 整合及高速訊號調取。

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🔍 技術資源索引 (Technical Index)：

Merak 天璇系列
MR 系列光譜儀
VCSEL 雷射 LIV 量測
Laser Diode 雷射二極體測試
3D Sensing 半導體檢測
0.1nm 超高光學解析度
OtO Photonics 代理商

SilverBullet 銀色子彈系列 光譜儀

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Silver Bullet 系列超微型光譜儀

Silver Bullet 系列：極致輕巧、控制板外置，專為設備整合而生的超微型分光系統
ULTRA-MICRO SPECTROMETER FOR OEM & PORTABLE APPLICATION

Silver Bullet 銀色子彈系列光譜儀
(SB 系列超微型設備整合分光系統)

專為設備製造商與系統整合商（OEM）打造，Silver Bullet 銀色子彈系列 (SB 系列) 是 OtO Photonics 實現極致微型化的代表作。SB 系列打破傳統限制，採用新型凹面反射鏡 Czerny-Turner 光路設計，搭配控制板外置與分離式架構，使光學核心體積小巧無比，大幅降低機台內部的空間佔用。本系列搭載高感度感測器與高效率處理器，具備超短積分時間、低功耗以及優異的熱穩定性。機身配備外部系統定位孔，使其成為水質檢測、色彩量測、環境監測與線上色彩品管等自動化機台、手持式儀器整合開發的首選引擎。

⭐ 核心優勢：凹面反射鏡設計大幅壓縮體積並簡化光路，提供高靈敏度與優異熱穩定性，全面支援 UV 至 NIR 寬波段深度客製。

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產品核心特色 (Key Features)

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    新型凹面反射鏡光路： 簡化光學元件數量，在極致微縮的體積下，依然能提供高解析度與低雜散光的專業性能。
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    控制板外置與分離式架構： 讓出光學核心空間，穩固機身並配有外部系統定位孔，極利於嵌入空間受限的自動化設備中。
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    高效能單晶片微處理器： 提供極短的最小積分時間、精準的 Sensor 觸發時序，並具備優異的低功耗管理。
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    優異的熱穩定性與抗震： 精簡的光學架構帶來強健的物理特性，確保在工業現場溫度變化下，量測數據依然精準可靠。
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    支援波段深度客製化： 可提供 180 ~ 1100 nm 區間內的窄波段或廣波段訂製，完美對應各種特定色彩或成分分析。

📊 典型版本與光學解析度配置 (Model & Wavelength Selection)

標準型號 版本 適用波段範圍 狹縫規格 (Slit) 光學解析度 (Resolution) 感測器像素 (Sensor)
SB3134 / SB4134 180 ~ 1100 nm 內客製化 25 µm / 50 µm 等 1.7 nm ~ 6.5 nm
(依配置而定)		 1024 Pixels CMOS
SB4130 特製 UV-VIS / NIR 窄波段 標準 / 客製狹縫 < 7 nm (50µm 狹縫)
(具備高速採樣優勢)		 1024 Pixels 高速 CMOS
Silver Bullet (SB) 系列技術規格 (Specifications)
核心光學架構 新型微型凹面反射鏡 Czerny-Turner 光路設計
核心微處理器 高效能 8051 核心 ｜ 可選配 32-bit RISC 微控制器獲取更佳傳輸快取
通訊與供電介面 USB 2.0 直接供電與通訊 ｜ 支援免外部電源系統整合
光學性能特徵 高傳輸靈敏度與高線性度 ｜ 專利演算法大幅抑制雜散光干擾
外觀機構與 I/O 外型極致輕巧 ｜ 預留機身外部定位孔 ｜ 配備 6 組數位 GPIO 引腳
工業系統整合防護規範 ⚡ GPIO 整合：控制板配備 6 組可編程數位引腳，支援聯動外部觸發及燈源開關信號同步。
⚠️ 機構鎖固：利用機身外部系統定位孔進行鎖附時，請採用均勻扭力固定，嚴禁單點過度旋緊，以防應力微幅傳導至內部分光鏡組。
⚠️ 分離排線保護：控制板外置設計在大幅縮減體積的同時，安裝時請加強對接排線的防塵與固定，以確保高速數據傳輸穩定性。
※ 備註：隨附 OtO 功能齊全的 SDK 開發套件，全面支援 Windows、Linux 環境與專屬 LabVIEW 驅動程式庫。

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🔍 技術資源索引 (Technical Index)：

Silver Bullet 系列
SB 系列超微型光譜儀
紫外可見光譜量測
凹面反射鏡光路設計
設備 OEM 系統整合
OtO Photonics 代理商

積分球均勻光源

積分球均勻光源系統, Spectrum-iCreate, 亮度校正光源, 影像感測器校準, 均勻光場模擬, 平場修正測試, 硫酸鋇塗佈技術, 分光輻射照度校正, 光學校準方案

Spectrum-iCreate 積分球均勻光源

專業級積分球均勻光源校準系統
Spectrum-iCreate Uniform Light Source System

Spectrum-iCreate 均勻光源系統
(高精度積分球與影像感測器測試方案)

專為高階光學測試設計的高穩定性均勻光源。本系統採用模組化設計，內部直徑達 50 公分，並使用高品質 硫酸鋇 (BaSO4) 塗佈材料。能為光學感測器、影像設備及校準實驗室提供極致準確且可靠的均勻光場環境，是光學量測領域不可或缺的專業助力。

⭐ 系統亮點：支持模組化光源擴充 (LED/鹵素燈)，可靈活模擬多樣化環境光譜需求。

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核心技術優勢 (Technical Advantages)

  • ✅ 高均勻度光場： 輸出亮度均勻性可達 ±1%，確保大型感測器測試時的數據一致性。
  • ✅ 彈性光源配置： 支援獨立光源外接，可選配 LED、鹵素燈、汞燈等多種光譜組合。
  • ✅ 照度微調機制： 配備精密狹縫（支援手動/自動程控），滿足跨等級的照度輸出。
  • ✅ 工業級結構設計： 採用強韌鋁擠型外框，提供穩定的內部空間，適合複雜光學模組整合。

📍 產業應用範疇 (Applications)

📷 影像設備校準針對相機模組進行平場修正 (FFC) 與動態範圍測試。
🔬 光學校準標準源提供分光輻射照度、亮度校正環境，符合國際量測追溯標準。
🛡️ 航太環境模擬模擬特定亮度的環境光，評估高階光學元件的性能穩定度。
系統技術規格表 (Specifications)
內部直徑 20 英吋 (50 公分)
輸出口徑 6 英吋 (15 公分)
最大輝度 / 照度 3500 nit / 11000 Lux (@75W)
亮度均勻性 ± 1% (頂級均勻度)
快門控制 MS-50 手動微調 / ASS-50 自動程控 (選配)

獲取更完整的光學量測方案

提供積分球系統二次開發與專業校正諮詢服務。

📥 規格說明書下載 (PDF)

🔍 技術資源索引 (Technical Index)：

積分球均勻光源系統
亮度與照度校正
影像感測器測試 (CIS)
平場修正 (Flat Field Correction)
硫酸鋇 BaSO4 塗佈技術
光學校準標準源
模組化光源系統

積分球系統整合

積分球設備活化, 舊型光譜儀升級, LabVIEW 系統重構, 凱宏科技黃金關鍵, 閒置量測設備再生, 跨品牌儀器整合, LED 自動化量測方案

凱宏科技-閒置積分球活化案例

舊型進口儀器與 LabVIEW 系統重構

🚀 閒置設備活化：積分球量測重生方案

高階光學設備不應因軟體過時而束之高閣。凱宏科技專精於 「資產活化與系統重構」，透過底層 SDK 二次開發，能將各品牌閒置多年的積分球與光譜儀重新串聯，轉化為具備自動化量測精度與數位化管理能力的全新系統。

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凱宏核心技術優勢 (Technical Edge)

  • ✅ 異質儀器驅動開發： 支援各廠牌（Ocean, OTO, Avantes 等）SDK 介接，打破軟體鎖定。
  • ✅ 高精度數據演算： 內建標準色度學與空間光分佈修正補償技術，恢復量測精準度。
  • ✅ 連線自癒與資源優化： 具備自動化連線恢復機制與優化工時資源佔用，確保系統穩健運行。
  • ✅ 模組化 ATE 整合： 可彈性串接溫控與電力分析模組，將舊設備升級為全自動檢測站。

您的光電設備需要數位化重生嗎？

凱宏科技致力於打造高精度量測自動化系統，協助您極大化閒置資產利用率。

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🔍 技術資源索引 (Technical Index)：

積分球系統整合
閒置設備活化方案
LED 全光通量量測
光譜儀 SDK 二次開發
LabVIEW 軟體重構
自動化連線恢復機制
異質儀器同步控制