溫控器

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TEC-200 溫度控制器

TEC-200：專業級半導體熱電溫控方案
THERMAL MANAGEMENT SERIES

TEC-200 溫度控制器
(高精度熱電溫控與穩定性測試系統)

採用先進的 半導體 TEC (Thermoelectric) 技術，能在 15°C 至 85°C 範圍內提供極速、穩定的加熱與冷卻反應。具備 ±0.01°C 的超高量測解析度，是精密光學測試、半導體元件特性分析及實驗室研究的首選設備。

⭐ 核心優勢：極致的長短期溫控穩定度 (≤0.02°C)，確保測試環境高度一致。

★
產品核心特色 (Key Features)

  • ✅ 極致精確控制： 提供 0.01°C 設定解析度，精準掌握每一絲溫度變化，適合敏感元件測試。
  • ✅ 卓越穩定表現： 溫控穩定度維持在 ≤0.02°C，確保長時間的高精度穩定性測試數據。
  • ✅ 快速熱循環反應： 利用熱電效應實現即時冷熱切換，顯著縮短自動化測試過程中的等待時間。
  • ✅ RS-232 遠端整合： 支援完整的遠端指令控制，易於整合進自動化 ATE 系統或客製化測試流程。
TEC-200 溫控器技術規格 (Specifications)
溫度控制範圍 15°C ~ 85°C (標準範圍，可客製化)
監控溫度範圍 -40°C ~ 150°C
溫控穩定度 ≤0.02°C (長期穩定度)
解析度 ±0.01°C (量測) / 0.01°C (設定)
通訊埠與指令 RS-232 (支援電腦端指令開發控制)

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📥 規格說明書下載 (PDF)

🔍 技術資源索引 (Technical Index)：

TEC 溫度控制器
溫控平台
高精度溫控系統
精密量測控溫
RS-232 遠端控制
恆溫穩定性測試
熱電致冷器 (TEC) 應用

雷射光電熱量測系統與激光自動化測試平台

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雷射光電熱量測系統與激光自動化測試平台

雷射光電熱量測系統特寫 3雷射光電熱量測系統特寫 1
雷射光電熱量測系統特寫 2

OPTOELECTRONIC THERMAL TEST SERIES

雷射光電熱量測系統
(VCSEL、激光與半導體雷射 LIV 測試、精密溫控、溫度監測與 ATE 整合)

凱宏科技專為次世代光電元件打造的高效能 雷射光電熱量測系統，完美支援垂直共振腔面射型雷射 (VCSEL)、各類激光源及半導體雷射元件的 LIV（電流-光功率-電壓）特性分析。系統可靈活搭配精密溫控器與即時溫度監測模組，精準掌控雷射在工作時的熱特性表現；並提供標準儀器遠端控制與開發者友善之 SDK，為雷射研發實驗室與高產能產線提供高精度、高重複性的激光測試解方。

⭐ 核心優勢：結合高精度雷射 LIV 光電量測、先進溫控器與即時溫度監測，確保各類激光元件在穩定熱環境下精準運作。

雷射與激光雷射測試系統之核心特色

★
雷射與激光量測功能亮點 (Key Features)

  • ✅ 完整雷射 LIV 特性分析： 同步量測電流 (Current)、光功率 (Light Output) 與電壓 (Voltage)，精準解析各類激光元件的斜率效率與臨界電流。
  • ✅ 精密溫控與即時溫度監測： 可依需求搭配高效溫控器與溫度感測模組，提供雷射多點即時溫度監測與過溫保護，確保激光熱穩定性。
  • ✅ 靈活的自動化 ATE 整合： 支援 LabVIEW、C# 與 Python 等開發者友善 SDK，無縫嵌入雷射與激光自動化產線及測試治具。
  • ✅ 光譜與波長對應分析： 搭配高解析光譜儀，精確捕捉 VCSEL 與半導體雷射於不同驅動與溫度條件下的光譜飄移與激光峰值波長。

雷射光電熱量測系統技術規格表 (Specifications)

雷射光電熱量測系統與激光雷射測試規格摘要
量測項目 雷射 LIV 特性曲線 (光功率-電流-電壓)、光譜分佈、激光峰值波長、半高寬 (FWHM)
熱管理與溫控支援 可依需求搭配精密溫控器 (TEC Controller) 與多點即時溫度監測模組，確保雷射溫度恆定
軟體與開發支援 提供 LabVIEW, C#, Python 等開發者友善 SDK，完美支援激光測試 ATE 系統整合
系統擴充性 可依需求搭配光學積分球、溫控/資料擷取周邊或多通道雷射切換盒
主要應用領域 VCSEL 3D感測元件、半導體激光/雷射測試、光通訊雷射源、車用光達 (LiDAR) 元件研發與產線 ATE 測試

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📥 雷射光電熱量測系統規格說明書下載 (PDF)

🔍 技術資源索引 (Technical Index)：

雷射光電熱量測系統
積分球光譜量測
激光量測儀器
雷射測試系統
半導體雷射 LIV 量測
溫控器與溫度監測
LabVIEW SDK
ATE 自動化整合