溫控器

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TEC-200 溫度控制器

TEC-200:專業級半導體熱電溫控方案
THERMAL MANAGEMENT SERIES

TEC-200 溫度控制器
(高精度熱電溫控與穩定性測試系統)

採用先進的 半導體 TEC (Thermoelectric) 技術,能在 15°C 至 85°C 範圍內提供極速、穩定的加熱與冷卻反應。具備 ±0.01°C 的超高量測解析度,是精密光學測試、半導體元件特性分析及實驗室研究的首選設備。

⭐ 核心優勢:極致的長短期溫控穩定度 (≤0.02°C),確保測試環境高度一致。


產品核心特色 (Key Features)

  • 極致精確控制: 提供 0.01°C 設定解析度,精準掌握每一絲溫度變化,適合敏感元件測試。
  • 卓越穩定表現: 溫控穩定度維持在 ≤0.02°C,確保長時間的高精度穩定性測試數據。
  • 快速熱循環反應: 利用熱電效應實現即時冷熱切換,顯著縮短自動化測試過程中的等待時間。
  • RS-232 遠端整合: 支援完整的遠端指令控制,易於整合進自動化 ATE 系統或客製化測試流程。
TEC-200 溫控器技術規格 (Specifications)
溫度控制範圍 15°C ~ 85°C (標準範圍,可客製化)
監控溫度範圍 -40°C ~ 150°C
溫控穩定度 ≤0.02°C (長期穩定度)
解析度 ±0.01°C (量測) / 0.01°C (設定)
通訊埠與指令 RS-232 (支援電腦端指令開發控制)

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🔍 技術資源索引 (Technical Index):

TEC 溫度控制器
半導體溫控技術
高精度溫控系統
精密量測控溫
RS-232 遠端控制
恆溫穩定性測試
熱電致冷器 (TEC) 應用

VCSEL量測系統

 

在手機3D感測、車用光達及光纖傳輸的需求帶動下, VCSEL元件市場規模已逐漸茁壯,使用TEMPOint的VCSEL LIV 量測系統,用戶可以快速準確地測試VCSEL效能(單點測試,變電流,變溫測試)

應用領域:

  • 人臉辨識
  • 手勢識別
  • 光學雷達 LiDAR
  • 時差測距 ToF
  • 雷射切割

特色:

  • 最低 0.2nm 解析度
  • VCSEL專用光譜儀
  • 200 Khz 高擷取速度
  • 最低50us 脈波寬度輸出
  • 儀器可在台灣做絕對值校正
量測數據
峰值輻射通量(W)     平均輻射通量(W)
峰波長(nm)     中心波長(nm)     重心波長(nm)     半波寬(nm)
輻電壓(V)     電流(A)     功率(W)     輻射轉換效率
輻射通量@時域     光譜值
系統需求 建議需求
Windows 7 32bit / 64bit 以上作業系統
1 GB 以上 RAM
2 GB 以上 硬碟容量
Windows 7 32bit / 64bit 以上作業系統
4 GB 以上 RAM
20 GB 以上 硬碟容量
系統規格
型號 Spectrum LoMo For VCSEL
積分球
材料 Spectralon
內部尺寸 5.3”( 13.5 cm )
反射率 > 98.5% ( 400 – 1500 nm )
> 95% ( 250 – 2500 nm )
光學規格
波長 800 – 990nm
光學解析度 0.2 nm
像素間隔 0.11 nm
輻射通量範圍 10m-100w
波長精度 ± 0.1 nm
波長重現性 ± 0.2 nm
偵測器擷取速度 200 Khz
偵測器線性度 99.5%
偵測器精確度 ± 0.1%
追朔 NML or NIST
其他規格
數位介面 USB 2.0
外觀尺寸 28.5 x 18 x 20 cm3
重量 2 kg
電源規格
額定輸出 60V / 7.5A for Pulse / 500W
最低脈波寬度 50us
電流精確度 0.04%+1mA (Low Range)
0.08%+5mA (High Range)

註:本文件中的產品規格及說明如有修改,恕不另行通知。

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