NEXUSTEST PXIe Source Measure Unit (PXIe SMU / 高精度源表) – 凱宏科技

PXIe Source Measure Unit, PXIe 源表, S2011C, S2012C, S2013C, S2016C, S2017C, S0342C, S2019C, S2014C, PXIe SMU, 模組化源表, ATE 測試, 凱宏科技, TEMPOint

PXIe SOURCE MEASURE UNIT FULL MODEL LINEUP

PXIe Source Measure Unit (PXIe 模組化源表全系列)
(完整 8 款型號：1通道 ➔ 4通道 ➔ 12通道 順序規格總覽)

在現代半導體自動化測試（ATE）與高密度平行量測中，PXIe Source Measure Unit (PXIe 模組化源表) 提供了傳統桌上型儀器無法比擬的通道密度與背板傳輸頻寬。它將精密電源供應與高靈敏電表完美整合於 PXIe 模組中，支援單通道、4 通道至最高 12 通道配置，全面滿足晶圓測試、多端子元件 IV 分析與產線 ATE 整合需求。

PXIe 源表全型號列表 (按通道數 1CH ➔ 4CH ➔ 12CH 排序)

S2011C
Single-channel PXIe SMU(Source Meter Unit)

NEXUSTEST S2011C 單通道 PXIe 源表

標準高精度單通道 PXIe 模組，具備優異的電壓/電流源測靈敏度與 PXIe 背板觸發同步能力，適合各類通用型半導體元件特性量測與自動化系統擴充。

規格數據：±60 V | DC ±3 A (Pulse ±10 A) | 解析度 100 nV / 100 fA | 20 W

S2012C
Single-channel PXIe SMU(Source Meter Unit)

NEXUSTEST S2012C 單通道 PXIe 源表

專為實驗室測試與高穩定度量測優化的單通道模組。提供優異的通道雜訊抑制與低漂移表現，完美對接精密 IV 分析任務。

規格數據：±200 V | DC ±1 A (Pulse ±3 A) | 解析度 100 nV / 10 fA | 20 W

S2013C
Single-channel PXIe SMU(Source Meter Unit)

NEXUSTEST S2013C 單通道 PXIe 源表

具備高速響應與彈性量測範圍的單通道源測模組，可與多機箱環境無縫整合，滿足動態負載與元件測試需求。

規格數據：±200 V | DC ±1 A (Pulse ±3 A) | 解析度 100 nV / 100 fA | 20 W

S2016C
Single-Channel PXIe SMU(Source Meter Unit)

NEXUSTEST S2016C 單通道 PXIe 源表

專為微小電流與奈安培級量測強化的單通道 PXIe 模組，支援多模組硬體高速同步，是光電與半導體元件量測的可靠利器。

規格數據：±200 V | DC ±1 A (Pulse ±3 A) | 解析度 100 nV / 1 fA | 20 W

S2017C
Single-Channel PXIe SMU(Source Meter Unit)

NEXUSTEST S2017C 單通道 PXIe 源表

兼具高輸出範圍與高解析度的單通道模組，支援標準 SCPI 指令與 PXIe 高速資料傳輸，方便快速整合至自動化 ATE 系統中。

規格數據：±200 V | DC ±1 A (Pulse ±1 A) | 解析度 100 nV / 0.1 fA | 20 W

S0342C
4-Channel PXIe SMU(Source Meter Unit)

NEXUSTEST S0342C 4通道 PXIe 源表

單一 PXIe 模組內建 4 個獨立高精度源測通道。具備靈活的輸出與高靈敏度量測能力，配合 PXIe 高速觸發背板，輕鬆對接多端子半導體元件與晶體管特性分析。

規格數據：±30 V | DC ±500 mA (Pulse ±500 mA) | 解析度 60 µV / 100 pA | 3 W

S2019C
4-Channel PXIe SMU(Source Meter Unit)

NEXUSTEST S2019C 4通道 PXIe 源表

專為 ATE 產線與高密度邏輯元件測試設計的 4 通道 PXIe SMU 模組。提供優異的通道間隔離與高速數據轉移能力，顯著提升平行測試吞吐量。

規格數據：±40 V | DC ±500 mA (Pulse ±1 A) | 解析度 1 µV / 1 pA | 4 W

S2014C
12-Channel PXIe SMU(Source Meter Unit)

NEXUSTEST S2014C 12通道高密度 PXIe 源表

極致的高密度通道設計！單一模組提供高達 12 個獨立源測通道，專為大規模平行測試（Massive Parallel Testing）與光電/雷射陣列產線設計，實現極高效能的 ATE 測試成本優化。

規格數據：±10 V | DC ±50 mA (Pulse ±50 mA) | 解析度 1 µV / 1 pA | 0.5 W

🔧 需要規劃 PXIe 機箱配置或客製化多通道源表系統嗎？

若您的專案需要評估上面 8 款 PXIe 源表模組的搭配與系統整合，歡迎隨時聯絡凱宏技術團隊！

聯絡凱宏技術團隊 →

🛠️ 為什麼選擇凱宏？我們的 PXIe 系統整合優勢

在 PXIe 模組化自動化測試中，硬體背板只是起點，「高速資料傳輸與多通道軟硬體同步」才是設備成功上線的關鍵。凱宏科技 (TEMPOint) 擁有豐富的 PXIe 系統整合經驗，我們深知工程師在建置 ATE 產線時面臨的挑戰：

⚡ PXIe 高速匯流排與硬體同步

充分利用 PXIe 平台的背板觸發與高速匯流排優勢，實現多模組、多通道的零時差低延遲同步量測，大幅提升產線測試吞吐量。

🔌 ATE 自動化架構與高密度整合

針對多通道半導體與光電元件，提供高密度（如 12 通道 S2014C）機箱配置與客製化針卡/治具交握介面，節省寶貴的廠房空間。

🔬 光電熱系統全方位串接

可將 PXIe 源表模組與光學積分球、雷射溫控器（TEC）及光譜儀無縫串接，打造專屬於 VCSEL 與光通訊元件的高效平行測試系統。

🚀 Developer-Ready 開發支援與軟體整合

針對 PXIe 模組化儀器，凱宏技術團隊提供專業的 **LabVIEW 系統整合開發支援** 與完整 SDK，助您快速打造高效能的自動化量測程式。

📦 完善的軟體與開發者資源：

  • LabVIEW 整合支援： 提供高效率的多通道 PXIe 儀器控制架構與客製化專案開發。
  • 多語言 SDK 支援： 涵蓋 C#、Python 等主流開發環境的指令集與範例。
  • 快速佈署： 免去從零開始摸索底層驅動的痛苦，加速產線 ATE 軟體上線時程。

Source Measure Unit (SMU / 高精度源表) – 凱宏科技

高精度源表, SMU, 源測單元, Benchtop SMU, 單通道源表, 雙通道源表, NEXUSTEST, IV量測, 半導體測試, LabVIEW SDK, ATE自動化整合, 凱宏科技, TEMPOint

BENCHTOP & SYSTEM SOURCE MEASURE UNIT CATEGORIES

高精度源表與 SMU 源測單元總分類
(單通道桌上型源表、雙通道源表與 ATE 系統自動化整合)

在現代半導體與光電元件量測中，「源表（SMU，源測單元）」扮演著核心的關鍵角色——它集精密電源供應器與高靈敏電表於一體，能夠在一機之內同時精準輸出電壓/電流，並同步擷取微小電氣響應。凱宏科技（TEMPOint）為您引進高效能、高性價比的專業桌上型源表系列，全面對接各類 IV 特性分析、科研實驗與產線 ATE 自動化測試。

產品分類總覽 (Product Categories & Models)

S3012H
單通道桌上型源表

NEXUSTEST S3012H 單通道高精度源表 (SMU)

專為一般半導體 IV 量測與單端元件測試打造。支援 ±200 V、±3 A (DC) 與脈衝 10 A 輸出，具備 100 fA / 100 nV 解析度及 1M 取樣率，支援純硬體高速多機同步。

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S3022F
雙通道桌上型源表

NEXUSTEST S3022F 雙通道高精度源表 (Dual-channel SMU)

針對多端子半導體元件、電晶體與光電陣列設計的雙通道獨立源測系統。保有 ±200 V / 3A 輸出與 100 fA 超高靈敏度，大幅提升多通道量測與產線測試效率。

進入產品詳細頁 →

🔧 需要多通道擴充或客製化自動化源表測試系統嗎？

若您的測試專案需要整合多台源表、搭配溫控器、積分球或客製化治具交握，歡迎隨時聯絡凱宏技術團隊！

聯絡凱宏技術團隊 →

🛠️ 為什麼選擇凱宏？我們的源表系統整合優勢

在精密電子與半導體量測中，硬體規格只是起點，「軟硬體系統整合與穩定交握」才是設備成功上線的關鍵。凱宏科技 (TEMPOint) 擁有豐富的自動化量測整合經驗，我們深知工程師在建置 ATE 產線或實驗室時面臨的挑戰，並提供全方位的解決方案：

⚡ ATE 自動化產線硬體同步

支援純硬體高速多機同步觸發（Hardware Triggering），實現多通道低延遲同步量測，確保產線量測數據的高重複性與極致穩定性。

🔌 工業通訊與遠端控制

支援標準 SCPI 指令集與遠端通訊介面，能輕鬆與各式儀器、PLC、IPC 或自動化夾治具進行高效的指令交握與資料擷取。

🔬 光電熱系統全方位整合

可將源表與光學積分球、雷射溫控器（TEC）、光譜儀無縫串接，打造專屬於 VCSEL、雷射二極體與功率半導體的綜合測試平台。

🚀 Developer-Ready 開發支援與軟體整合

我們深刻理解工程師的時間寶貴。針對需要客製化量測 UI 或深入底層 ATE 系統交握的客戶，凱宏技術團隊能提供專業的 **LabVIEW 系統整合開發支援**，助您快速打造高效能的自動化量測程式。

📦 完善的軟體與開發者資源：

  • LabVIEW 整合支援： 提供高效率的儀器控制架構與客製化專案開發。
  • 多語言與 SDK 支援： 涵蓋 C#、Python 等主流開發環境的指令集與範例。
  • 快速導入： 免去您從零開始摸索底層通訊的痛苦，加速實驗室研發與產線佈署時程。

光譜儀

光譜儀總分類, Spectrometer Categories, 紫外可見光譜儀, 近紅外光譜儀, 高解析度光譜儀, 超微型光譜儀, 工業光源光纖配件, 凱宏科技, TEMPOint, 光譜儀系統整合, LabVIEW SDK 開發, ATE 自動化測試, OtO Photonics, 光譜儀, 台灣超微光學

產品分類總覽

Product Categories & System Integration

☀️

紫外 / 可見光譜儀

UV / Vis Spectrometer

涵蓋紫外至可見光波段的高性能光學量測需求。具備高幾何光學效率與優異線性度，廣泛應用於薄膜厚度量測、水質生化分析、穿透率/吸光度即時檢測。

🔍

近紅外光譜儀

NIR Spectrometer

專注於非破壞性成分檢測。針對有機物特徵吸收峰優化，是現代智慧農業（果實甜度/水分）、藥品真偽辨識、食品分選以及紡織材料成分定性定量的核心首選。

🔬

高解析度光譜儀

High Resolution Series

挑戰解析極限（最高達 0.02nm）。主打醫學生醫影像的多維 OCT 斷層檢測，以及半導體雷射特徵分析、VCSEL LIV 高速 ATE 測試與光學干涉定量量測。

🚀

超微型光譜儀

Ultra-Miniature (MEMS)

採用微機電（MEMS）凹面光柵核心，將體積壓縮至極致。低功耗且熱穩定性優異，提供強大的二次開發 SDK，完美嵌入掌上型設備與無人機 IoT 網格感測系統。

⚙️

光源、光纖與配件

Light Sources & Accessories

打造全方位自動化光學測試 platform。提供客製化高幾何效率積分球、高石英穿透率石英光纖探頭、標準校正光源及工業 ATE 特殊機械消光結構元件。

🔧
客製化量測系統
需要特殊的軟硬體系統整合、客製化光路設計或 LabVIEW 二次開發支援？

歡迎聯絡凱宏技術團隊 →

🛠️ 為什麼選擇凱宏？我們的光譜儀系統整合優勢

在自動化光學量測中，硬體規格只是起點，「軟硬體系統整合」才是設備成功上線的關鍵。凱宏科技 (TEMPOint) 擁有豐富的工業自動化與量測整合經驗，我們深知工程師在架構 ATE 產線或實驗系統時面臨的挑戰，並提供全方位的解決方案與二次開發支援：

產線 ATE 自動化整合


滿足高速快門同步、多台光譜儀硬體同步觸發（Hardware Triggering）需求，確保在線檢測（In-line Inspection）的極致資料穩定性。

工業通訊與跨平台交握


支援 RS-232 / RS-485 Modbus 指令控制與 TCP/IP 網路通訊，輕鬆與 PLC、精密馬達驅動器或 IPC 進行高效的資料交握。

光路客製化與環境適應


針對不同量測情境，客製化高幾何效率積分球、特殊光纖探頭及消光結構設計（Light Trap），完美適應各式嚴苛的產線與實驗室環境。

🚀 Developer-Ready 二次開發與豐富原廠範例

我們深刻理解工程師的時間寶貴。針對需要客製化量測 UI 或深入底層 ATE 系統交握的客戶，凱宏技術團隊能提供專業的 LabVIEW 系統整合開發支援。

同時，出貨皆隨附 OtO 原廠功能完整的跨平台 SDK 與現成開發範例資料夾，免去您重頭調試底層驅裝的痛苦：

  • ✔ C# (.NET)：內含多種實用專案（如 Xenon 閃爍波形擷取、吸光度/穿透率測試、顏色反射率量測、光源校正實作、硬體 Reset 測試等）
  • ✔ Python & Matlab：提供科學計算與大數據分析所需的高效能擷取指令集
  • ✔ 傳統與底層通訊：完整附帶 RS232 sample code、Delphi、BCB 以及穩定度極佳的 VC6 / VB6 範例專案
  • ✔ 架構齊全：全面支援 DLL_x64 / DLL_x86 動態連結庫與硬體觸發控制（VC2010 trigger example）

積分球均勻光源

積分球均勻光源系統, Spectrum-iCreate, 亮度校正光源, 影像感測器校準, 均勻光場模擬, 平場修正測試, 硫酸鋇塗佈技術, 分光輻射照度校正, 光學校準方案

Spectrum-iCreate 積分球均勻光源

專業級積分球均勻光源校準系統
Spectrum-iCreate Uniform Light Source System

Spectrum-iCreate 均勻光源系統
(高精度積分球與影像感測器測試方案)

專為高階光學測試設計的高穩定性均勻光源。本系統採用模組化設計，內部直徑達 50 公分，並使用高品質 硫酸鋇 (BaSO4) 塗佈材料。能為光學感測器、影像設備及校準實驗室提供極致準確且可靠的均勻光場環境，是光學量測領域不可或缺的專業助力。

⭐ 系統亮點：支持模組化光源擴充 (LED/鹵素燈)，可靈活模擬多樣化環境光譜需求。

★
核心技術優勢 (Technical Advantages)

  • ✅ 高均勻度光場： 輸出亮度均勻性可達 ±1%，確保大型感測器測試時的數據一致性。
  • ✅ 彈性光源配置： 支援獨立光源外接，可選配 LED、鹵素燈、汞燈等多種光譜組合。
  • ✅ 照度微調機制： 配備精密狹縫（支援手動/自動程控），滿足跨等級的照度輸出。
  • ✅ 工業級結構設計： 採用強韌鋁擠型外框，提供穩定的內部空間，適合複雜光學模組整合。

📍 產業應用範疇 (Applications)

📷 影像設備校準針對相機模組進行平場修正 (FFC) 與動態範圍測試。
🔬 光學校準標準源提供分光輻射照度、亮度校正環境，符合國際量測追溯標準。
🛡️ 航太環境模擬模擬特定亮度的環境光，評估高階光學元件的性能穩定度。
系統技術規格表 (Specifications)
內部直徑 20 英吋 (50 公分)
輸出口徑 6 英吋 (15 公分)
最大輝度 / 照度 3500 nit / 11000 Lux (@75W)
亮度均勻性 ± 1% (頂級均勻度)
快門控制 MS-50 手動微調 / ASS-50 自動程控 (選配)

獲取更完整的光學量測方案

提供積分球系統二次開發與專業校正諮詢服務。

📥 規格說明書下載 (PDF)

🔍 技術資源索引 (Technical Index)：

積分球均勻光源系統
亮度與照度校正
影像感測器測試 (CIS)
平場修正 (Flat Field Correction)
硫酸鋇 BaSO4 塗佈技術
光學校準標準源
模組化光源系統

積分球系統整合

積分球設備活化, 舊型光譜儀升級, LabVIEW 系統重構, 凱宏科技黃金關鍵, 閒置量測設備再生, 跨品牌儀器整合, LED 自動化量測方案

凱宏科技-閒置積分球活化案例

舊型進口儀器與 LabVIEW 系統重構

🚀 閒置設備活化：積分球量測重生方案

高階光學設備不應因軟體過時而束之高閣。凱宏科技專精於 「資產活化與系統重構」，透過底層 SDK 二次開發，能將各品牌閒置多年的積分球與光譜儀重新串聯，轉化為具備自動化量測精度與數位化管理能力的全新系統。

★
凱宏核心技術優勢 (Technical Edge)

  • ✅ 異質儀器驅動開發： 支援各廠牌（Ocean, OTO, Avantes 等）SDK 介接，打破軟體鎖定。
  • ✅ 高精度數據演算： 內建標準色度學與空間光分佈修正補償技術，恢復量測精準度。
  • ✅ 連線自癒與資源優化： 具備自動化連線恢復機制與優化工時資源佔用，確保系統穩健運行。
  • ✅ 模組化 ATE 整合： 可彈性串接溫控與電力分析模組，將舊設備升級為全自動檢測站。

您的光電設備需要數位化重生嗎？

凱宏科技致力於打造高精度量測自動化系統，協助您極大化閒置資產利用率。

📥 立即下載設備活化方案手冊 (PDF)

🔍 技術資源索引 (Technical Index)：

積分球系統整合
閒置設備活化方案
LED 全光通量量測
光譜儀 SDK 二次開發
LabVIEW 軟體重構
自動化連線恢復機制
異質儀器同步控制

溫控器

溫度控制器, 高精度熱電溫控, 半導體 TEC 技術, 凱宏科技, 精密量測控溫, RS-232 遠端控制, 穩定性測試, PID 溫控, 熱電致冷器應用

TEC-200 溫度控制器

TEC-200：專業級半導體熱電溫控方案
THERMAL MANAGEMENT SERIES

TEC-200 溫度控制器
(高精度熱電溫控與穩定性測試系統)

採用先進的 半導體 TEC (Thermoelectric) 技術，能在 15°C 至 85°C 範圍內提供極速、穩定的加熱與冷卻反應。具備 ±0.01°C 的超高量測解析度，是精密光學測試、半導體元件特性分析及實驗室研究的首選設備。

⭐ 核心優勢：極致的長短期溫控穩定度 (≤0.02°C)，確保測試環境高度一致。

★
產品核心特色 (Key Features)

  • ✅ 極致精確控制： 提供 0.01°C 設定解析度，精準掌握每一絲溫度變化，適合敏感元件測試。
  • ✅ 卓越穩定表現： 溫控穩定度維持在 ≤0.02°C，確保長時間的高精度穩定性測試數據。
  • ✅ 快速熱循環反應： 利用熱電效應實現即時冷熱切換，顯著縮短自動化測試過程中的等待時間。
  • ✅ RS-232 遠端整合： 支援完整的遠端指令控制，易於整合進自動化 ATE 系統或客製化測試流程。
TEC-200 溫控器技術規格 (Specifications)
溫度控制範圍 15°C ~ 85°C (標準範圍，可客製化)
監控溫度範圍 -40°C ~ 150°C
溫控穩定度 ≤0.02°C (長期穩定度)
解析度 ±0.01°C (量測) / 0.01°C (設定)
通訊埠與指令 RS-232 (支援電腦端指令開發控制)

需要更精準的熱管理方案嗎？

凱宏科技 (TEMPOint) 提供專業技術支援，協助您打造恆定、可靠的實驗與生產環境。

📥 規格說明書下載 (PDF)

🔍 技術資源索引 (Technical Index)：

TEC 溫度控制器
溫控平台
高精度溫控系統
精密量測控溫
RS-232 遠端控制
恆溫穩定性測試
熱電致冷器 (TEC) 應用

Data Logger 軟體 / 資料記錄器軟體 / 數據採集系統

ZEL-100 Data LoMo 資料擷取軟體 – 凱宏科技工業大數據整合方案

支援 Modbus RTU/TCP、TSI 粒子計數器、電力儀表之數據監控系統

ZEL-100 數據擷取軟體即時監控介面

直覺式數據中心介面

🚀 ZEL-100 Data LoMo：跨品牌數據整合系統

ZEL-100 是由凱宏科技自主開發的工業數據監控平台。針對系統整合（SI）需求，完整支援 Modbus RTU/TCP 標準協定，能有效收整各類感測器、電力表及高精密儀器數據，提供穩定且高效的數位化轉型方案。

⭐ 核心優勢：獨家「資料自動切分技術」，在大數據採集環境下展現零丟失、零死機的卓越穩定性。

📊 工業級大數據穩定性與 SQLite 技術

ZEL-100 歷史資料檢索

SQLite 數據庫：支援百萬筆資料秒速查詢

  • ✅大數據自動切檔技術：
    自動執行資料切分機制，解決長時間監測檔案過大痛點，確保每一筆數據寫入皆穩定可靠。
  • ✅自動產出 Excel 報表：
    支援採集紀錄秒轉 Excel / CSV 格式，並精準對應各通道自定義名稱與物理單位。
  • ✅認證級管理模式：
    詳實紀錄操作 Log 與權限管理，符合工業認證要求，實現完善的品質追溯機制。

📍 已驗證之通訊整合實績

凱宏科技具備深厚的系統整合背景，我們不只提供工具，更為您解決現場通訊不相容的難題：

🌡️ 無塵室與環境監控
成功整合 TSI 粒子計數器、高精度溫濕度變送器，實現自動化連線監控。
⚡ 產線能耗管理系統
對接 Modbus 功率計與電力儀表，建立即時數據中心與能源分析報表。
📋 萬用類比訊號紀錄
搭配 IO-200 模組，支援 Thermocouple, RTD 多通道訊號，取代傳統紀錄儀。
📶 工業無線物聯網
採用 LoRa 無線傳輸，克服長距離佈線困難，實現跨廠區數據收集。
ZEL-100 系統技術規格
核心資料庫 工業級 SQLite (支援大數據高速檢索)
通訊協定 Modbus RTU / TCP、RS-485、Ethernet
控制平台 Windows 11 / 10 / 7 (穩定相容各式工業電腦)
數據輸出 支援一鍵 Excel / CSV 產出
客製整合服務 支援特殊儀表驅動開發與各類型感測器 SI 對接服務

※ 產品規格及說明如有修改，恕不另行通知。

需要專業的系統整合諮詢嗎？

凱宏科技致力於解決產線數據採集痛點，歡迎索取技術規格手冊。

📥 立即下載 ZEL-100 技術手冊 (PDF)

🔍 技術資源索引 (Technical Index)：

數據擷取軟體
Modbus 整合監控
動態串流資料優化管理
凱宏科技整合方案
工業物聯網 SI
TSI 粒子計數器連線
自動產出 Excel 報表

智慧色差與 QR 履歷追溯系統

智慧色差檢測與 QR 履歷追溯系統

TEMPOint：精密分光儀自動化整合專家
Automated Spectrophotometer & QR Traceability System

智慧色差檢測與 QR 履歷追溯系統
(分光色差儀 CM-M6 自動化品管檢測方案)

凱宏科技研發之 智慧分光檢測系統，深度整合 Konica Minolta CM-M6 專業色差計與自動化判定軟體。透過「量測、數據分析、QR 履歷」一站式流程，為產業提供最高精度的 自動化色差檢測器 解決方案。

⭐ 核心價值：將繁瑣檢測全面數位化，為產品建立獨一無二的「數位生產履歷」。

★
系統核心優勢 (Technical Edge)

  • ✅ 自動化精準判定： 系統自動執行 OK/NG 判定，杜絕人工判讀誤差，確保品管標準化。
  • ✅ 多角度光學量測： 同步分析 25°/45°/75° 三角度數據，精準捕捉真實色彩表現。
  • ✅ 即時追溯管理： 量測後即刻列印 QR Code 標籤，為產品建立數位化「生產履歷」。
  • ✅ 標準數據分析： 完整輸出 L, a, b, ΔE 等專業數值，檔案完全相容 CSV/Excel。

📍 產業應用範疇 (Applications)

🚗 汽車塗裝檢測針對噴漆品質與多角度光學表現進行高精確自動化監控。
📱 電子外觀控管確保精密電子組件在各生產批次間的色彩一致性。
📦 光學膜材監測功能膜品質分析與數位化生產履歷的一站式整合。
系統技術規格 (Technical Specifications)
量測核心 KM CM-M6 / 多型號分光儀與色差計整合
數據輸出 L, a, b, ΔL, Δa, Δb, ΔE(76), ΔE(94) 等指標
控制平台 Windows IPC / LabVIEW 專屬智慧判定架構
追溯標籤 自動化 QR Code 列印 (含判定、日期、批號)

升級您的智慧品管追溯系統

凱宏科技提供 客製化色差量測開發，協助您實現數據化品管。※ 系統規格可依需求二次開發。

📥 立即下載技術規格手冊 (PDF)

🔍 技術資源索引 (Technical Index)：

智慧色差檢測系統
分光色差儀整合
QR Code 生產履歷
Konica Minolta CM-M6
LabVIEW 自動化判定
智慧製造方案

可程式電源切換分配盒

RSV-24 前面板
RSV-24 後面板
RSV-24 工業級鋁合金機體外觀

🚀 RSV-24 可程式電源切換分配盒

專為提升測試效率與降低硬體成本而開發。實現 「1 台電源、24 組輸出」 的核心配置，能將單一 Source Meter 訊號透過程式化精準分配。對於需要頻繁變換電壓、處理繁瑣量測規格的場合，可有效減少設備購置數量，大幅縮減架設成本與人力時間。

★
核心技術優勢 (Key Features)

  • ✅ 極速通道切換： 具備小於 10ms 的高速切換能力，確保自動化測試流程流暢。
  • ✅ Source Sense 補償： 具備四線式 Sense 功能，自動補償線路壓降，確保電壓精確傳遞。
  • ✅ 卓越擴充能力： 標配 24 Pin，可根據量測需求客製化擴充至 48、72 甚至 96 Pin。
  • ✅ 二次開發支援： 內建 USB 2.0 介面並提供專屬 DLL 開發工具，方便軟體整合。
  • ✅ 工業級整合設計： 採用標準紅黑香蕉端子輸入與 DSUB-25 輸出，適合各種 ATE 系統。

📍 產業應用範疇 (Applications)

💡 光電元件：LED 多點切換測試
🏭 自動化產線：ATE 系統整合驗證
📱 面板產業：多通道同步供電測試
🔬 可靠度分析：長期多點監測系統
RSV 切換系統 技術規格 (Specifications)
型號 RSV-24 (可擴充至 96 Pin)
電壓電流容量 最高 30 V / 5 A
Sense 補償功能 支援 (四線式 Remote Sense)
數位控制介面 USB 2.0 (提供專屬 DLL 開發包)
機體尺寸 48.5 x 35 x 9.5 cm

※ 產品規格及說明如有修改，恕不另行通知。

📁 相關資源下載

🚀 完整規格手冊下載 (PDF)

紫外穿透保護濾光片 IHU250 系列

IHU250系列，穿透率近似石英玻璃(~92%)，長時間照射下衰減率低至1%，適合用於分析儀器，曝光裝置，光學成像，紫外保護，波長校正等需要透過紫外線領域得到廣泛使用，相比於石英玻璃，IHU250的熱膨脹係數與藍寶石相同，適合金屬化並與藍寶石( sapphire )基板做搭配使用

   特色：

  • 熱膨脹係數與藍寶石相同（7.9 E-6 / ℃  VS 7.7 E-6 / ℃ )
  • 穿透率近似於石英玻璃 ( T%~92% )
  • 加工溫度與一般玻璃相當
  • 可使用五鈴精工的專利熱壓成型技術做成棒狀，塊狀，圓球甚至是複眼透鏡(Lens Array)

 

 

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