高解析度光譜儀, High Resolution Spectrometer, Alioth 玉衡, MeGrez 天權, Dubhe 天樞, Phekda 天璣, Merak 天璇, 超高解析度光譜儀, 凱宏科技, 光譜儀系統整合, LabVIEW SDK 開發, ATE 自動化測試, 雷射波長量測, 微型光譜儀, OtO Photonics, OCT光學斷層掃描, 眼睛皮膚材料檢測, 醫療光學影像, SD-OCT 系統
高解析度光譜儀系列
High Resolution Spectrometer Series
玉衡 Alioth 系列
多元 OCT 斷層檢測 | 高靈敏度光學整合
- 具備優異的高解析度與高動態範圍,為先進光學檢測提供精準的光譜數據
- 廣泛應用於生醫與工業領域,包含眼睛組織、皮膚病理及金屬材料的 OCT 斷層掃描與特徵辨識
- 高靈敏度光路配置,能精確捕捉微弱的干涉與反射訊號,完美整合至各式 ATE 自動化檢測系統
天權 MeGrez 系列
科研級高動態 | 寬光敏範圍覆蓋
- 具備極高的光譜分辨率與高動態範圍,精準捕捉光譜細節
- 光路結構熱穩定性優異,適合實驗室長時間精密定量分析
- 廣泛應用於多光譜薄膜量測、材料化學成分辨識與特殊分選
天樞 Dubhe 系列
OCT 光學斷層掃描專用 | 醫療與工業影像深度整合
- 專為 SD-OCT(頻域光學斷層掃描)系統設計,具備優異的光訊號通量與跨波段光學穿透率
- 高度緊湊的輕量化模組結構,能完美嵌入醫療眼科診斷、生醫光學或半導體晶圓斷層檢測設備
- 搭配高可靠度散熱與高幾何效率光路,提供長時間干涉光譜量測所需的極致熱穩定性
超高解析度天璣 Phekda 系列
極致解析度 | 雷射與半導體量測首選
- 專為挑戰光譜解析極限設計,光譜半高寬 (FWHM) 表現極其優異,解析度可達 0.02nm
- 能精準量測細微的光譜分裂、雷射中心波長漂移與窄頻濾光片特徵
- 適用於 VCSEL LIV 測試、半導體晶圓光學特性檢測與高階物理實驗
天璇 Merak 系列
跨波段高速掃描 | 全方位光譜解決方案
- 具備極佳的波長應答線性度,能在大範圍波段內輸出高品質光譜數據
- 提供多種狹縫與光柵配置彈性,完美平衡「解析度」與「光訊號通量」
- 專為多任務實驗環境與複雜工業吸光度/穿透率同步測試平台打造
在自動化光學量測中,硬體規格只是起點,「軟硬體系統整合」才是設備成功上線的關鍵。凱宏科技 (TEMPOint) 擁有豐富的工業自動化與量測整合經驗,我們深知工程師在架構 ATE 產線或實驗系統時面臨的挑戰,並提供全方位的解決方案與二次開發支援:
產線 ATE 自動化整合
滿足高速快門同步、多台光譜儀硬體同步觸發(Hardware Triggering)需求,確保在線檢測(In-line Inspection)的極致資料穩定性。
工業通訊與跨平台交握
支援 RS-232 / RS-485 Modbus 指令控制與 TCP/IP 網路通訊,輕鬆與 PLC、精密馬達驅動器或 IPC 進行高效的資料交握。
光路客製化與環境適應
針對不同量測情境,客製化高幾何效率積分球、特殊光纖探頭及消光結構設計(Light Trap),完美適應各式嚴苛的產線與實驗室環境。
🚀 Developer-Ready 二次開發與豐富原廠範例
我們深刻理解工程師的時間寶貴。針對需要客製化量測 UI 或深入底層 ATE 系統交握的客戶,凱宏技術團隊能提供專業的 LabVIEW 系統整合開發支援。
同時,出貨皆隨附 OtO 原廠功能完整的跨平台 SDK 與現成開發範例資料夾,免去您重頭調試底層驅動的痛苦:
- ✔ C# (.NET):內含多種實用專案(如 Xenon 閃爍波形擷取、吸光度/穿透率測試、顏色反射率量測、光源校正實作、硬體 Reset 測試等)
- ✔ Python & Matlab:提供科學計算與大數據分析所需的高效能擷取指令集
- ✔ 傳統與底層通訊:完整附帶 RS232 sample code、Delphi、BCB 以及穩定度極佳的 VC6 / VB6 範例專案
- ✔ 架構齊全:全面支援 DLL_x64 / DLL_x86 動態連結庫與硬體觸發控制(VC2010 trigger example)