Megrez 系列：專為雷射、VCSEL 與螢光分析打造的超高解析致冷利器
TE-COOLED HIGH-RESOLUTION SPECTROMETER
Megrez & Megrez-NIR 天權系列光譜儀
(MG & MG-NIR 系列超高解析度熱電致冷光譜分析系統)
專為追求極致光學解析度與長時間量測穩定性的前瞻實驗室及晶圓級產線所設計，Megrez & Megrez-NIR (MG & MG-NIR) 天權系列 光譜儀代表了微型光譜結構的高階突破。本系列採用先進的穿透反射式 TRT-Czerny-Turner 光學設計，搭配精密的硬體結構，能有效抑制雜散光並提供卓越的抗震性。系統核心搭載高效能 CCD (VIS) 或 InGaAs (NIR) 線性陣列感測器，並全面整合高階熱電致冷 (TE-Cooling) 技術，將感測器溫度穩定控制，大幅降低暗電流噪訊。結合 32-bit RISC 微處理器架構，展現出高光學解析度、極高訊雜比與超快光譜反應速度，非常適合應用於葉綠素螢光 (VIS)、Laser Diode 雷射二極體檢測、VCSEL 3D感測元件、LED 測試以及各種高靈敏度的微弱光譜分析場景。
⭐ 核心優勢：TRT 獨家光學結構實現超高光學解析度，結合熱電致冷 (TE-Cooled) 技術，在長時間積分量測或微弱雷射波長動態監測下，依然保持完美的熱穩定性與極低雜訊。
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產品核心特色 (Key Features)
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穿透反射式 TRT 光學設計： 具備長焦距聚焦能力，在高密度光柵配置下能提供極佳的半高寬解析度（FWHM 可達 <0.1nm ~ <0.35nm），完美分辨狹窄的雷射模式與發射主峰。
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感測器熱電致冷降噪 (TE-Cooling)： 內建精密晶片致冷模組，可有效抑制長時間曝光下的暗電流（Dark Noise 僅 6.5 ~ 16 counts），在漫反射、生物螢光等暗場量測中展現超高感度。
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32-bit RISC 高速硬體控制： 升級 32 位元 RISC 微控制器，大幅優化光譜數據讀取速度與 Sensor 觸發時序整合，實現毫秒級（0.1 ms ~ 24s）超彈性積分曝光時間調整。
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雙增益調變模式（High / Low Gain）： 提供 5000 ~ 10000 的超高動態範圍，硬體線路上可根據入射光強弱隨時彈性切換，在大功率雷射與微弱側模雜訊分析中取得完美平衡。
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豐富的工業系統 I/O 週邊： 後方提供 8-pin 介面，支援外部多種時序觸發與燈源同步開啟（LS_ON），滿足工業 ATE 自動化產線機台的動態即時同步聯動量測。
📊 產品型號與感測器配置 (Model Selection)
※ 備註：天權 MG/MG-NIR 系列隨附完整的跨平台 SDK 軟體開發套件（全面支援 Windows C#、C++、Python、Linux 開發環境以及專屬的 LabVIEW 控制驅動庫 APIs），可快速實現開機（`UAI_SpectrometerOpen`）與高靈敏度光譜讀取。
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🔍 技術資源索引 (Technical Index)：
Megrez 天權系列
MG & MG-NIR 光譜儀
TRT 穿透反射式光學
熱電致冷 TE-Cooling
雷射二極體與VCSEL檢測
超高解析度光譜分析
OtO Photonics 代理
MG & MG-NIR 光譜儀
TRT 穿透反射式光學
熱電致冷 TE-Cooling
雷射二極體與VCSEL檢測
超高解析度光譜分析
OtO Photonics 代理