Dubhe 北斗七星-天樞系列 光譜儀

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Dubhe 天樞系列 OCT 專用高速穿透式光譜儀

Dubhe 系列:專為生醫 OCT、眼底斷層造影與高速晶圓檢測打造的超高解析利器
OCT-DEDICATED HIGH-SPEED THROUGH-TYPE SPECTROMETER

Dubhe 天樞系列穿透式光譜儀
(DB 系列高解析度 / 超高速 OCT 專用光學量測系統)

專為生醫影像斷層掃描、眼科精細檢測以及精密半導體晶圓級高頻量測所設計,Dubhe 天樞系列 (DB 系列) 光譜儀是針對 OCT (光學同調斷層掃描) 高解析度與高感度需求研發的旗艦機種。本系列革命性地採用全穿透式 Czerny-Turner 光學設計,核心整合積體相位全像光柵 (Volume Phase Holographic Grating, VPH Grating)、高精密準直與聚焦鏡頭,能有效消除傳統反射光路的離軸像差,展現極低雜散光與優異的通光靈敏度。系統運用專利優化調校機構,可達成極致的 0.04 nm 超高光學解析度。在相機模組方面,出廠可彈性選配 80 kHz 或 20 kHz 的超高速線性 array CMOS 感測器,動態範圍高達 69 dB,能夠在微秒級時序內完美捕捉並輸出微弱光譜信號,特別適合眼底視網膜影像、非侵入式皮膚組織病症分析、以及非接觸式工業薄膜斷層量測。

⭐ 核心優勢:全穿透式 VPH 光學結構實現 0.04nm 超解析度,搭配高達 80 kHz 的光譜刷新率,在毫米級深度範圍內能提供微米級(µm)的橫向縱向非接觸高精度斷層造影。


產品核心特色 (Key Features)

  • 積體相位全像穿透式光柵 (VPH Grating): 相較傳統刻線光柵,VPH 光柵在特定角度下擁有更高的繞射效率與低偏振敏感度,大幅提升微弱斷層回波的感度。
  • 極致微米級光學解像力: 結合專利優化調校機構,光學解析度可精確達到 0.04nm,可提供優異的深度演算法對比,彌補超音波與磁振造影(MRI)解析度的不足。
  • 80 kHz / 20 kHz 超高速行掃掃描: 內建高階高速相機模組,專為即時影像重構(Real-time Reconstruction)與高頻工業自動化產線 ATE 檢測系統聯動所設計。
  • 高動態與絕佳訊噪比: 具備 69 dB 動態範圍與 51 dB 訊噪比 (SNR),10 x 200 µm 像素尺寸能完整捕捉光譜微小干涉條紋,輸出高品質灰階數據。
  • 台灣自主研發精密結構: 所有關鍵光學系統如分光、聚焦、準直設計及定位銷定位技術均由台灣自行研發設計,機體抗震性能優異。

📊 產品型號與感測器配置 (Model Selection)

系列型號 (Model) 適用光譜範圍 相機速度版本 (Line Rate) 動態範圍 / 訊噪比 像素尺寸 / 位元深度
DB1020F 800 ~ 880 nm (NIR T1) 20 kHz 69 dB | 51 dB 10 x 200 µm | 10, 11, 12 bit
DB1080F 800 ~ 880 nm (NIR T1) 80 kHz (超高速版) 69 dB | 51 dB 10 x 200 µm | 10, 11, 12 bit
Dubhe (DB) 系列技術規格 (Specifications)
核心光學設計 全穿透式 Czerny-Turner 光學設計 | 內建高精密準直與聚焦鏡頭光路
分光元件規格 積體相位全像穿透式光柵 (Volume Phase Holographic Grating)
極致光學解析度 最高可達 0.04 nm (搭配專利優化調校機構技術)
感測器像素配置 2048 Pixels 線性高速 CMOS 陣列相機模組
系統供電與基本控制 光譜儀架構支援 USB 直接供電並可由 USB 連接電腦進行光譜基本通訊
波長校正與演算法 內建專屬高端波長校正演算法,隨附專屬調校校正參數檔
外觀機構與光纖接口 隨附精準定位銷(Dowels pins)等高可靠度工業定位組件設計
輸入光纖接口:標準高品質 SMA905 機構接口
工業系統整合防護規範 ⚡ 高速頻寬注意:由於 80 kHz / 20 kHz 版本數據通訊極快,整合系統端請務必選用符合原廠規格之高速通訊介面(如專用 Camera Link 或相機模組指定引腳),並參考 SDK PIN 腳圖配置。
⚠️ 光纖鎖固注意:鎖固外部 SMA905 光纖接頭時,請一律以「手旋緊」鎖固,切勿使用老虎鉗或扳手強行過度轉動,以防精密分光入口結構受到外力應力形變。
⚠️ 插芯長度限制:請搭配合規標準插芯機械長度的光纖,嚴禁插入過長之客製非標插芯,以免機械頂撞直接損壞內部核心狹縫系統(此為人為損壞,不在原廠保固範圍之內)。
※ 備註:天樞 DB 系列隨附功能強大的高速相機軟體開發套件 (SDK),全面支援多平台 APIs 開發環境,並可完美串接自動化量測系統與專屬 LabVIEW 控制驅動庫,可實現開機通訊與微秒級即時光譜波形調取。

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🔍 技術資源索引 (Technical Index):

天樞 Dubhe 系列
DB 系列光譜儀
OCT 光學同調斷層掃描
VPH 積體相位全像光柵
80 kHz 高速 CMOS
0.04nm 超高解析度
OtO Photonics 代理