積分球系統整合

積分球設備活化, 舊型光譜儀升級, LabVIEW 系統重構, 凱宏科技黃金關鍵, 閒置量測設備再生, 跨品牌儀器整合, LED 自動化量測方案

凱宏科技-閒置積分球活化案例

舊型進口儀器與 LabVIEW 系統重構

🚀 閒置設備活化：積分球量測重生方案

高階光學設備不應因軟體過時而束之高閣。凱宏科技專精於 「資產活化與系統重構」，透過底層 SDK 二次開發，能將各品牌閒置多年的積分球與光譜儀重新串聯，轉化為具備自動化量測精度與數位化管理能力的全新系統。

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凱宏核心技術優勢 (Technical Edge)

  • ✅ 異質儀器驅動開發： 支援各廠牌（Ocean, OTO, Avantes 等）SDK 介接，打破軟體鎖定。
  • ✅ 高精度數據演算： 內建標準色度學與空間光分佈修正補償技術，恢復量測精準度。
  • ✅ 連線自癒與資源優化： 具備自動化連線恢復機制與優化工時資源佔用，確保系統穩健運行。
  • ✅ 模組化 ATE 整合： 可彈性串接溫控與電力分析模組，將舊設備升級為全自動檢測站。

您的光電設備需要數位化重生嗎？

凱宏科技致力於打造高精度量測自動化系統，協助您極大化閒置資產利用率。

📥 立即下載設備活化方案手冊 (PDF)

🔍 技術資源索引 (Technical Index)：

積分球系統整合
閒置設備活化方案
LED 全光通量量測
光譜儀 SDK 二次開發
LabVIEW 軟體重構
自動化連線恢復機制
異質儀器同步控制

智慧色差與 QR 履歷追溯系統

智慧色差檢測與 QR 履歷追溯系統

TEMPOint：精密分光儀自動化整合專家
Automated Spectrophotometer & QR Traceability System

智慧色差檢測與 QR 履歷追溯系統
(分光色差儀 CM-M6 自動化品管檢測方案)

凱宏科技研發之 智慧分光檢測系統，深度整合 Konica Minolta CM-M6 專業色差計與自動化判定軟體。透過「量測、數據分析、QR 履歷」一站式流程，為產業提供最高精度的 自動化色差檢測器 解決方案。

⭐ 核心價值：將繁瑣檢測全面數位化，為產品建立獨一無二的「數位生產履歷」。

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系統核心優勢 (Technical Edge)

  • ✅ 自動化精準判定： 系統自動執行 OK/NG 判定，杜絕人工判讀誤差，確保品管標準化。
  • ✅ 多角度光學量測： 同步分析 25°/45°/75° 三角度數據，精準捕捉真實色彩表現。
  • ✅ 即時追溯管理： 量測後即刻列印 QR Code 標籤，為產品建立數位化「生產履歷」。
  • ✅ 標準數據分析： 完整輸出 L, a, b, ΔE 等專業數值，檔案完全相容 CSV/Excel。

📍 產業應用範疇 (Applications)

🚗 汽車塗裝檢測針對噴漆品質與多角度光學表現進行高精確自動化監控。
📱 電子外觀控管確保精密電子組件在各生產批次間的色彩一致性。
📦 光學膜材監測功能膜品質分析與數位化生產履歷的一站式整合。
系統技術規格 (Technical Specifications)
量測核心 KM CM-M6 / 多型號分光儀與色差計整合
數據輸出 L, a, b, ΔL, Δa, Δb, ΔE(76), ΔE(94) 等指標
控制平台 Windows IPC / LabVIEW 專屬智慧判定架構
追溯標籤 自動化 QR Code 列印 (含判定、日期、批號)

升級您的智慧品管追溯系統

凱宏科技提供 客製化色差量測開發，協助您實現數據化品管。※ 系統規格可依需求二次開發。

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智慧色差檢測系統
分光色差儀整合
QR Code 生產履歷
Konica Minolta CM-M6
LabVIEW 自動化判定
智慧製造方案

雷射光電熱量測系統與激光自動化測試平台

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雷射光電熱量測系統與激光自動化測試平台

雷射光電熱量測系統特寫 3雷射光電熱量測系統特寫 1
雷射光電熱量測系統特寫 2

OPTOELECTRONIC THERMAL TEST SERIES

雷射光電熱量測系統
(VCSEL、激光與半導體雷射 LIV 測試、精密溫控、溫度監測與 ATE 整合)

凱宏科技專為次世代光電元件打造的高效能 雷射光電熱量測系統，完美支援垂直共振腔面射型雷射 (VCSEL)、各類激光源及半導體雷射元件的 LIV（電流-光功率-電壓）特性分析。系統可靈活搭配精密溫控器與即時溫度監測模組，精準掌控雷射在工作時的熱特性表現；並提供標準儀器遠端控制與開發者友善之 SDK，為雷射研發實驗室與高產能產線提供高精度、高重複性的激光測試解方。

⭐ 核心優勢：結合高精度雷射 LIV 光電量測、先進溫控器與即時溫度監測，確保各類激光元件在穩定熱環境下精準運作。

雷射與激光雷射測試系統之核心特色

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雷射與激光量測功能亮點 (Key Features)

  • ✅ 完整雷射 LIV 特性分析： 同步量測電流 (Current)、光功率 (Light Output) 與電壓 (Voltage)，精準解析各類激光元件的斜率效率與臨界電流。
  • ✅ 精密溫控與即時溫度監測： 可依需求搭配高效溫控器與溫度感測模組，提供雷射多點即時溫度監測與過溫保護，確保激光熱穩定性。
  • ✅ 靈活的自動化 ATE 整合： 支援 LabVIEW、C# 與 Python 等開發者友善 SDK，無縫嵌入雷射與激光自動化產線及測試治具。
  • ✅ 光譜與波長對應分析： 搭配高解析光譜儀，精確捕捉 VCSEL 與半導體雷射於不同驅動與溫度條件下的光譜飄移與激光峰值波長。

雷射光電熱量測系統技術規格表 (Specifications)

雷射光電熱量測系統與激光雷射測試規格摘要
量測項目 雷射 LIV 特性曲線 (光功率-電流-電壓)、光譜分佈、激光峰值波長、半高寬 (FWHM)
熱管理與溫控支援 可依需求搭配精密溫控器 (TEC Controller) 與多點即時溫度監測模組，確保雷射溫度恆定
軟體與開發支援 提供 LabVIEW, C#, Python 等開發者友善 SDK，完美支援激光測試 ATE 系統整合
系統擴充性 可依需求搭配光學積分球、溫控/資料擷取周邊或多通道雷射切換盒
主要應用領域 VCSEL 3D感測元件、半導體激光/雷射測試、光通訊雷射源、車用光達 (LiDAR) 元件研發與產線 ATE 測試

需要為您的 VCSEL 或激光雷射元件導入自動化光電熱量測與溫控系統嗎？

凱宏科技 (TEMPOint) 提供專業雷射與光電熱量測系統整合，助您加速次世代激光元件研發時程。

📥 雷射光電熱量測系統規格說明書下載 (PDF)

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