Phekda 北斗七星-天璣系列 光譜儀

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Phekda 天璣系列高解析度工業光譜儀

Phekda 系列：專為 LIBS 元素分析、Raman 檢測與 VCSEL 雷射量測開發的旗艦級光學系統
HIGH-RESOLUTION INDUSTRIAL LIBS / RAMAN / VCSEL SPECTROMETER

Phekda 天璣 / 天璣近紅外系列光譜儀
(PD & PD-NIR 系列高精度工業級光學量測系統)

專為自動化精密量測與光譜分析研發，Phekda 天璣系列 (PD & PD-NIR 系列) 是 OtO 針對高端工業、生醫與材料科學推出的旗艦機種。天璣系列特別針對 LIBS (雷射誘導擊穿光譜) 的極快動態時序、Raman (拉曼應用) 的微弱散射光，以及 VCSEL 雷射二極體 (例如 1522~1578nm 高頻寬通訊波段) 測試進行深度優化。本系列採用強化的光學分光架構，在特定的短波段內可實現 < 0.1 nm 的極致高光學解析度（搭配10µm狹縫）。系統架構支援 2048 像素 CCD 感測器與微秒級高速快門控制，並具備全客製化波段服務，可靈活跨足可見光（400~1000nm）與近紅外（900~1700nm）光域，隨附專業的波長校正演算法及出廠調校參數，能完美聯動多平台自動化 ATE 量測產線。

⭐ 核心優勢：專屬 LIBS、Raman 與 1550nm 雷射應用的超高解析度設計，支援高速外部硬體同步觸發，完美滿足晶圓級高速 LIV 測試與精密物質材料分析。

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產品核心特色 (Key Features)

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    極致微米級光學解像力： PD-V25 & PD-V30 配置 10µm 狹縫時，解析度可達到 < 0.1nm，精準捕捉 LIBS 電漿激發原子譜線或拉曼尖銳位移特徵。
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    特製應用波段配置： 針對 VCSEL 雷射量測專門開闢 1522~1578nm 的窄波段（PD-NIRQ 版本），以 0.25nm 的解像力支援半導體高速光學 ATE 測試。
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    高靈敏 CCD / 寬頻感測器支援： 內建高感度 2048 像素線陣感測器，低雜散光、高線性度，能精準擷取高動態與微弱干涉光譜。
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    優異的硬體整合通訊： 機體後側整合精密的 PC USB 與後外接頭（GPIO），可靈活配置時序與提供 5V 電源給外接雷射或切換開關。
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    台灣自主研發抗震結構： 分光系統、機體核心結構部件及內部機構定位技術，皆具備優異的環境抗震性能與耐用度。

📊 典型版本與光學解析度配置 (Model & Resolution Selection)

型號/光學晶片版本 專屬應用 / 客製波段範圍 狹縫寬度規格 (Slit) 光學解析度 (Resolution) 感測器像素 (Sensor)
PD-V25 / PD-V30 LIBS 電漿 ｜ Raman 拉曼應用 ｜ 535~565 / 535~650nm 10 µm < 0.1 nm (超高解析) 2048 Pixels CCD
PD-V32 PD-VIS 可見光波段客製 ｜ 可選 400 ~ 1000 nm 25 µm < 0.35 nm 2048 Pixels CCD
PD-NIRQ (天璣近紅外) VCSEL 雷射高速量測應用 ｜ 1522 ~ 1578 nm 10 µm < 0.25 nm 高寬頻近紅外線性感測器
Phekda (PD & PD-NIR) 系列技術規格 (Specifications)
核心光學與分光架構 OtO 專利微型高解析分光光路設計 ｜ 內建高速精密微秒級快門機構
光域客製化範疇 PD-VIS 可見光機型：400 ~ 1000 nm ｜ PD-NIR 近紅外機型：900 ~ 1700 nm
基本控制與供電機制 支援 PC USB 介面直接通訊與供電，提供高速微秒級即時光譜波形輸出
波長調校演算法 出廠隨附高階專屬波長校正調校參數檔，內建高線性度補償修正機制
外觀結構與光學輸入 標準精準工業定位銷(Dowels pins)組件孔位設計
輸入光纖接口：標準高品質 SMA905 機構接口
工業系統整合防護規範 ⚡ GPIO 引腳配置：機體後側配備 PC USB 與外接頭引腳。當使用 USB 連結電腦時，Pin 1 可輸出約 5V / 0.1A 電源供外接微型裝置使用。GPIO 操作電壓嚴格限定於 VIL(max)=0.8V、VIH(min)=2.0V 區間，絕對輸入電壓為 -0.3V 至 5.5V，請遵循原廠 SDK 手冊 PIN 腳圖配置，嚴禁超壓輸入。
⚠️ 光纖鎖固安全：與外部 SMA905光纖接頭對接鎖固時，請務必一律以「手旋緊」方式進行固定。嚴禁使用扳手、老虎鉗等機械工具施加過度扭力，以防止內部分光狹縫入口結構因外部應力產生機械形變。
⚠️ 插芯機械限制：請務必搭配合規標準插芯機械長度的光纖。嚴禁插入客製化非標過長之插芯，避免機械頂撞直接撞擊損壞內部核心分光與狹縫系統（此人為碰撞損壞不在保固範圍之內）。
※ 備註：天璣 Phekda 系列隨附功能強大的軟體開發套件 (SDK) 與 APIs，全面支援高頻自動化產線整合，並能完美支援客製化 LabVIEW 控制驅動庫與通訊調取。

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🔍 技術資源索引 (Technical Index)：

天璣 Phekda 系列
PD / PD-NIR 光譜儀
LIBS 雷射誘導擊穿光譜
Raman 拉曼光譜應用
VCSEL 雷射 LIV 量測
0.1nm 超高解析度
OtO Photonics 代理