溫控器

溫度控制器, 高精度熱電溫控, 半導體 TEC 技術, 凱宏科技, 精密量測控溫, RS-232 遠端控制, 穩定性測試, PID 溫控, 熱電致冷器應用

TEC-200 溫度控制器

TEC-200：專業級半導體熱電溫控方案
THERMAL MANAGEMENT SERIES

TEC-200 溫度控制器
(高精度熱電溫控與穩定性測試系統)

採用先進的 半導體 TEC (Thermoelectric) 技術，能在 15°C 至 85°C 範圍內提供極速、穩定的加熱與冷卻反應。具備 ±0.01°C 的超高量測解析度，是精密光學測試、半導體元件特性分析及實驗室研究的首選設備。

⭐ 核心優勢：極致的長短期溫控穩定度 (≤0.02°C)，確保測試環境高度一致。

★
產品核心特色 (Key Features)

  • ✅ 極致精確控制： 提供 0.01°C 設定解析度，精準掌握每一絲溫度變化，適合敏感元件測試。
  • ✅ 卓越穩定表現： 溫控穩定度維持在 ≤0.02°C，確保長時間的高精度穩定性測試數據。
  • ✅ 快速熱循環反應： 利用熱電效應實現即時冷熱切換，顯著縮短自動化測試過程中的等待時間。
  • ✅ RS-232 遠端整合： 支援完整的遠端指令控制，易於整合進自動化 ATE 系統或客製化測試流程。
TEC-200 溫控器技術規格 (Specifications)
溫度控制範圍 15°C ~ 85°C (標準範圍，可客製化)
監控溫度範圍 -40°C ~ 150°C
溫控穩定度 ≤0.02°C (長期穩定度)
解析度 ±0.01°C (量測) / 0.01°C (設定)
通訊埠與指令 RS-232 (支援電腦端指令開發控制)

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凱宏科技 (TEMPOint) 提供專業技術支援，協助您打造恆定、可靠的實驗與生產環境。

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🔍 技術資源索引 (Technical Index)：

TEC 溫度控制器
半導體溫控技術
高精度溫控系統
精密量測控溫
RS-232 遠端控制
恆溫穩定性測試
熱電致冷器 (TEC) 應用

智慧色差與 QR 履歷追溯系統

智慧色差檢測與 QR 履歷追溯系統

TEMPOint：精密分光儀自動化整合專家
Automated Spectrophotometer & QR Traceability System

智慧色差檢測與 QR 履歷追溯系統
(分光色差儀 CM-M6 自動化品管檢測方案)

凱宏科技研發之 智慧分光檢測系統，深度整合 Konica Minolta CM-M6 專業色差計與自動化判定軟體。透過「量測、數據分析、QR 履歷」一站式流程，為產業提供最高精度的 自動化色差檢測器 解決方案。

⭐ 核心價值：將繁瑣檢測全面數位化，為產品建立獨一無二的「數位生產履歷」。

★
系統核心優勢 (Technical Edge)

  • ✅ 自動化精準判定： 系統自動執行 OK/NG 判定，杜絕人工判讀誤差，確保品管標準化。
  • ✅ 多角度光學量測： 同步分析 25°/45°/75° 三角度數據，精準捕捉真實色彩表現。
  • ✅ 即時追溯管理： 量測後即刻列印 QR Code 標籤，為產品建立數位化「生產履歷」。
  • ✅ 標準數據分析： 完整輸出 L, a, b, ΔE 等專業數值，檔案完全相容 CSV/Excel。

📍 產業應用範疇 (Applications)

🚗 汽車塗裝檢測針對噴漆品質與多角度光學表現進行高精確自動化監控。
📱 電子外觀控管確保精密電子組件在各生產批次間的色彩一致性。
📦 光學膜材監測功能膜品質分析與數位化生產履歷的一站式整合。
系統技術規格 (Technical Specifications)
量測核心 KM CM-M6 / 多型號分光儀與色差計整合
數據輸出 L, a, b, ΔL, Δa, Δb, ΔE(76), ΔE(94) 等指標
控制平台 Windows IPC / LabVIEW 專屬智慧判定架構
追溯標籤 自動化 QR Code 列印 (含判定、日期、批號)

升級您的智慧品管追溯系統

凱宏科技提供 客製化色差量測開發，協助您實現數據化品管。※ 系統規格可依需求二次開發。

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智慧色差檢測系統
分光色差儀整合
QR Code 生產履歷
Konica Minolta CM-M6
LabVIEW 自動化判定
智慧製造方案

可程式電源切換分配盒

RSV-24 前面板
RSV-24 後面板
RSV-24 工業級鋁合金機體外觀

🚀 RSV-24 可程式電源切換分配盒

專為提升測試效率與降低硬體成本而開發。實現 「1 台電源、24 組輸出」 的核心配置，能將單一 Source Meter 訊號透過程式化精準分配。對於需要頻繁變換電壓、處理繁瑣量測規格的場合，可有效減少設備購置數量，大幅縮減架設成本與人力時間。

★
核心技術優勢 (Key Features)

  • ✅ 極速通道切換： 具備小於 10ms 的高速切換能力，確保自動化測試流程流暢。
  • ✅ Source Sense 補償： 具備四線式 Sense 功能，自動補償線路壓降，確保電壓精確傳遞。
  • ✅ 卓越擴充能力： 標配 24 Pin，可根據量測需求客製化擴充至 48、72 甚至 96 Pin。
  • ✅ 二次開發支援： 內建 USB 2.0 介面並提供專屬 DLL 開發工具，方便軟體整合。
  • ✅ 工業級整合設計： 採用標準紅黑香蕉端子輸入與 DSUB-25 輸出，適合各種 ATE 系統。

📍 產業應用範疇 (Applications)

💡 光電元件：LED 多點切換測試
🏭 自動化產線：ATE 系統整合驗證
📱 面板產業：多通道同步供電測試
🔬 可靠度分析：長期多點監測系統
RSV 切換系統 技術規格 (Specifications)
型號 RSV-24 (可擴充至 96 Pin)
電壓電流容量 最高 30 V / 5 A
Sense 補償功能 支援 (四線式 Remote Sense)
數位控制介面 USB 2.0 (提供專屬 DLL 開發包)
機體尺寸 48.5 x 35 x 9.5 cm

※ 產品規格及說明如有修改，恕不另行通知。

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紫外穿透保護濾光片 IHU250 系列

IHU250系列，穿透率近似石英玻璃(~92%)，長時間照射下衰減率低至1%，適合用於分析儀器，曝光裝置，光學成像，紫外保護，波長校正等需要透過紫外線領域得到廣泛使用，相比於石英玻璃，IHU250的熱膨脹係數與藍寶石相同，適合金屬化並與藍寶石( sapphire )基板做搭配使用

   特色：

  • 熱膨脹係數與藍寶石相同（7.9 E-6 / ℃  VS 7.7 E-6 / ℃ )
  • 穿透率近似於石英玻璃 ( T%~92% )
  • 加工溫度與一般玻璃相當
  • 可使用五鈴精工的專利熱壓成型技術做成棒狀，塊狀，圓球甚至是複眼透鏡(Lens Array)

 

 

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藍光雷射

由於雷射本身會發出高度集中的可見光，可能對人眼有害，故舉凡這些設備的產品必須遵循IEC 60825 (​​激光產品的安全性)中的安全預防措施，而OSRAM 原裝 PLPT9 450LA_E 藍光雷射即在此規範標準內。

 

    特色：

  • 符合IEC 60825 規範
  • 發射波長: 450 nm
  • 連續波和脈衝波的高效輻射源
  • ESD保護二極體
  • 激光二極體TO90原裝

 

規格 Specifications
最高可乘載數據
操作溫度 -20~85°C
儲存溫度 -20~120°C
接面溫度 135 °C
輸出功率 3.2 W
工作電流 2.5 A
反向飽和電流 20 mA
焊接溫度 260 °C
特性
工作電流 2.0~2.4 A
中心波長 437 nm ~ 460 nm
光輸出功率 3.0 W
閾值電流 0.27 A
順向電壓 5 V
總功耗 5.5 W
TE極化 100:1
接面熱阻 10 K / W

註：本文件中的產品規格及說明如有修改，恕不另行通知。

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多功能資料擷取卡(DAQ)

 

USB資料擷取卡是一款USB介面的高效率多功能資料擷取卡，具有8路差動16位元解析度高速同步類比信號擷取（最高同步擷取速率200KSPS，同步擷取即每通道都是200KSPS）、2路12位模擬信號輸出（只有單次低速輸出模式）、16路數字信號單向輸入及輸出、2路32位PWM等精度測量輸入、2路32位PWM或單脈衝輸出。AD支持内外部時間，内部、外部觸發。

 特色：

  • 8通道差動(Differential)類比輸入，同步擷取
  • 16位解析度 200KHZ  AD
  • 訊號動態範圍：±10V / ±5V
  • 2路12位DA、輸出0-10V
  • 數位量：16入（DIO-DI15）/16出(DOO-DO15)/ ( 5V –TTL準位)
  • 2路32位PWM測量輸入，測量時間：48MHz，等精度測量，測量誤差為一個基準時間48MHz，2路PWM測量輸入0-1分别與DI2-DI3共用
  • AD轉換模式有16通道同步轉換模式
  • AD轉換時間：内外部觸發，觸發準位5V，與開關量輸入通道DI1共用，外部時間可以選擇上升或下降

 

規格 Specifications
類比輸入
類比輸入通道數量 8路差動輸入
類比輸入解析度 16 bit ( 305 μV / 152  μV )
取樣速率 200 kS/s/ch 同步取樣
類比輸入緩衝FIFO緩衝區容量 180 K
類比輸入阻抗 > 1 MΩ
輸入範圍 ±10 V / ±5 V
輸入精度 ± 5 mV
數位輸出輸入 與 計時器計數器
16 Channel (DI) 16 Channel (DO)
Input Level：0 ~ 5 V ( Compatible ：3.3 V ) Output Level：5V
High Level：> 2 V / Low Level：< 0.8 V High Level：> 2.5 V / Low Level：< 0.5 V
Max Current：10mA / ch
2 Channel 32 bit PWM Input 2 Channel 32 bit PWM / Pulse Onput
Input Level：0 ~ 5 V ( Compatible ：3.3 V ) Output Level：5V
High Level：> 2 V / Low Level：< 0.8 V High Level：> 2.5 V / Low Level：< 0.5 V
Max Current：10mA / ch
時脈：48 Mhz / 32 bit 計時器
軟體支援
作業系統支援 WinXP / Win7 / Win8 / Win10
SDK Example(DLL)：Labview / C# / Python / MATLAB
測試程式
其它特性
數位介面 USB 2.0
工作電流 < 500 mA
輸入電壓 12V ± 5 %

註：本文件中的產品規格及說明如有修改，恕不另行通知。

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雷射光電熱量測系統與激光自動化測試平台

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雷射光電熱量測系統與激光自動化測試平台

雷射光電熱量測系統特寫 3雷射光電熱量測系統特寫 1
雷射光電熱量測系統特寫 2

OPTOELECTRONIC THERMAL TEST SERIES

雷射光電熱量測系統
(VCSEL、激光與半導體雷射 LIV 測試、精密溫控、溫度監測與 ATE 整合)

凱宏科技專為次世代光電元件打造的高效能 雷射光電熱量測系統，完美支援垂直共振腔面射型雷射 (VCSEL)、各類激光源及半導體雷射元件的 LIV（電流-光功率-電壓）特性分析。系統可靈活搭配精密溫控器與即時溫度監測模組，精準掌控雷射在工作時的熱特性表現；並提供標準儀器遠端控制與開發者友善之 SDK，為雷射研發實驗室與高產能產線提供高精度、高重複性的激光測試解方。

⭐ 核心優勢：結合高精度雷射 LIV 光電量測、先進溫控器與即時溫度監測，確保各類激光元件在穩定熱環境下精準運作。

雷射與激光雷射測試系統之核心特色

★
雷射與激光量測功能亮點 (Key Features)

  • ✅ 完整雷射 LIV 特性分析： 同步量測電流 (Current)、光功率 (Light Output) 與電壓 (Voltage)，精準解析各類激光元件的斜率效率與臨界電流。
  • ✅ 精密溫控與即時溫度監測： 可依需求搭配高效溫控器與溫度感測模組，提供雷射多點即時溫度監測與過溫保護，確保激光熱穩定性。
  • ✅ 靈活的自動化 ATE 整合： 支援 LabVIEW、C# 與 Python 等開發者友善 SDK，無縫嵌入雷射與激光自動化產線及測試治具。
  • ✅ 光譜與波長對應分析： 搭配高解析光譜儀，精確捕捉 VCSEL 與半導體雷射於不同驅動與溫度條件下的光譜飄移與激光峰值波長。

雷射光電熱量測系統技術規格表 (Specifications)

雷射光電熱量測系統與激光雷射測試規格摘要
量測項目 雷射 LIV 特性曲線 (光功率-電流-電壓)、光譜分佈、激光峰值波長、半高寬 (FWHM)
熱管理與溫控支援 可依需求搭配精密溫控器 (TEC Controller) 與多點即時溫度監測模組，確保雷射溫度恆定
軟體與開發支援 提供 LabVIEW, C#, Python 等開發者友善 SDK，完美支援激光測試 ATE 系統整合
系統擴充性 可依需求搭配光學積分球、溫控/資料擷取周邊或多通道雷射切換盒
主要應用領域 VCSEL 3D感測元件、半導體激光/雷射測試、光通訊雷射源、車用光達 (LiDAR) 元件研發與產線 ATE 測試

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