NEXUSTEST PXIe SMU S2016C Source Measure Unit – 凱宏科技

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NEXUSTEST S2016C 單通道 PXIe 源表 (SMU)
NEXUSTEST S2016C PXIe SMU
單通道 PXIe 源測單元 (Single-channel PXIe SMU)

PXIE SOURCE MEASURE UNIT SERIES

NEXUSTEST S2016C 單通道超高精度 PXIe 源表
(1 fA 超高解析度 PXIe SMU、支援 Adaptive PFC 系統)

凱宏科技引進的 NEXUSTEST S2016C 是一款具備極致微小電流捕捉能力的單槽、單通道 PXIe 源測單元（SMU）。它完美整合了精密電源與高靈敏電表，支援最高 ±200 V、±1 A (DC) 與 Pulse 3 A 輸出，總恆定功率達 20 W。本機擁有高達 1 fA / 100 nV 的頂級量測解析度、1M ADC 取樣率，並搭載先進的 Adaptive PFC（Precise-Fast Control）系統，讓工程師能依據負載特性自由調整參數，全面滿足先進半導體與奈米元件的精密 IV 量測需求。

⭐ 核心優勢：突破性的 1 fA 超高電流解析度與 Adaptive PFC 系統，完美適配標準 PXIe 機箱，實現高精確度的單通道與多通道擴充測試。

S2016C 單通道 PXIe 源表之核心特色與亮點

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產品功能亮點 (Key Highlights)

  • ✅ 1 fA 頂級量測解析度： 提供高達 1 fA 電流解析度與 100 nV 電壓解析度，完美應對極低漏電流與奈米元件量測。
  • ✅ 寬廣動態範圍與高速取樣： 支援 ±200 V、±1 A (DC) 以及 Pulse 3 A 輸出，並支援高達 1M ADC 取樣率。
  • ✅ Adaptive PFC 系統： 搭載精密快速控制（Adaptive PFC）系統，允許使用者依據負載特性動態調校相關參數，確保系統極致穩定。
  • ✅ 彈性系統擴充架構： 基於標準 PXIe 機箱架構設計，支援輕鬆建立單通道或多通道高密度測試系統。

S2016C 技術規格表 (Specifications)

NEXUSTEST S2016C 規格摘要表
設備類型 單通道 PXIe 源表 / 源測單元 (Single-channel PXIe SMU – Source Measure Unit)
電壓/電流輸出範圍 ±200 V, ±1 A (DC), ±3 A (Pulse), 總恆定功率 20 W
量測解析度 電流最小 1 fA / 電壓最小 100 nV
取樣率與核心技術 支援高達 1M ADC 取樣率，內建 Adaptive PFC（Precise-Fast Control）系統
系統架構與相容性 相容標準 PXIe 機箱，支援傳統 SCPI 指令集與輕鬆的程式碼移轉
主要應用領域 極低漏電流半導體分析、奈米元件特性量測、實驗室精密 IV 量測、ATE 自動化測試

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