NEXUSTEST PXIe S2012C Source Measure Unit (PXIe SMU / 電源量測單元) – 凱宏科技

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NEXUSTEST S2012C 單通道 PXIe 源表 (SMU)
NEXUSTEST S2012C PXIe SMU
單通道 PXIe 源測單元 (Single-channel PXIe SMU)

PXIE SOURCE MEASURE UNIT SERIES

NEXUSTEST S2012C 單通道高精度 PXIe 源表
(高穩定度實驗室與高解析度 PXIe SMU、支援 Adaptive PFC 系統)

凱宏科技引進的 NEXUSTEST S2012C 是一款專為實驗室測試與高穩定度量測優化的單槽、單通道 PXIe 源測單元（SMU）。它完美整合了精密電源與高靈敏電表，支援高達 ±200 V、±1 A (DC) 與 Pulse 3 A 輸出，總恆定功率達 20 W。本機具備高達 10 fA / 100 nV 的超高量測解析度、1M ADC 取樣率，並搭載先進的 Adaptive PFC（Precision Fast Control）系統，讓使用者可依負載特性精準調整參數，全面完美對接精密 IV 分析與 ATE 平行測試任務。

⭐ 核心優勢：支援 10 fA 超高電流解析度與 Adaptive PFC 系統，完美適配標準 PXIe 機箱，實現多通道平行擴充與極致產線測試效益。

S2012C 單通道 PXIe 源表之核心特色與亮點

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產品功能亮點 (Key Highlights)

  • ✅ 超高精度量測： 提供高達 10 fA 電流解析度與 100 nV 電壓解析度（電壓準確度 100 µV、電流準確度 9 pA），精準捕捉微小漏電流。
  • ✅ 高動態範圍與高速取樣： 支援 ±200 V、±1 A (DC) 以及 Pulse 3 A 輸出，並支援高達 1M ADC 取樣率。
  • ✅ Adaptive PFC 系統： 搭載精密快速控制（Adaptive PFC）系統，允許使用者依據不同負載特性動態調整相關參數，確保系統極致穩定。
  • ✅ 多通道平行測試： 基於標準 PXIe 機箱架構，能輕鬆建構高密度多通道平行測試系統，大幅降低產線測試成本。

S2012C 技術規格表 (Specifications)

NEXUSTEST S2012C 規格摘要表
設備類型 單通道 PXIe 源表 / 源測單元 (Single-channel PXIe SMU – Source Measure Unit)
電壓/電流輸出範圍 ±200 V, ±1 A (DC), ±3 A (Pulse), 總恆定功率 20 W
量測解析度與準確度 電流解析度達 10 fA（準確度 9 pA） / 電壓解析度達 100 nV（準確度 100 µV）
取樣率與核心技術 支援高達 1M ADC 取樣率，內建 Adaptive PFC（Precision Fast Control）系統
系統整合與架構 支援標準 PXIe 機箱，具備高度整合性，輕鬆實現多通道平行測試與模組擴充
主要應用領域 精密半導體元件特性分析、實驗室高穩定度 IV 量測、產線 ATE 自動化平行測試

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