NEXUSTEST PXIe Source Measure Unit (PXIe SMU / 高精度源表) – 凱宏科技

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PXIe SOURCE MEASURE UNIT FULL MODEL LINEUP

PXIe Source Measure Unit (PXIe 模組化源表全系列)
(完整 8 款型號：1通道 ➔ 4通道 ➔ 12通道 順序規格總覽)

在現代半導體自動化測試（ATE）與高密度平行量測中，PXIe Source Measure Unit (PXIe 模組化源表) 提供了傳統桌上型儀器無法比擬的通道密度與背板傳輸頻寬。它將精密電源供應與高靈敏電表完美整合於 PXIe 模組中，支援單通道、4 通道至最高 12 通道配置，全面滿足晶圓測試、多端子元件 IV 分析與產線 ATE 整合需求。

PXIe 源表全型號列表 (按通道數 1CH ➔ 4CH ➔ 12CH 排序)

S2011C
Single-channel PXIe SMU(Source Meter Unit)

NEXUSTEST S2011C 單通道 PXIe 源表

標準高精度單通道 PXIe 模組，具備優異的電壓/電流源測靈敏度與 PXIe 背板觸發同步能力，適合各類通用型半導體元件特性量測與自動化系統擴充。

規格數據：±60 V | DC ±3 A (Pulse ±10 A) | 解析度 100 nV / 100 fA | 20 W

S2012C
Single-channel PXIe SMU(Source Meter Unit)

NEXUSTEST S2012C 單通道 PXIe 源表

專為實驗室測試與高穩定度量測優化的單通道模組。提供優異的通道雜訊抑制與低漂移表現，完美對接精密 IV 分析任務。

規格數據：±200 V | DC ±1 A (Pulse ±3 A) | 解析度 100 nV / 10 fA | 20 W

S2013C
Single-channel PXIe SMU(Source Meter Unit)

NEXUSTEST S2013C 單通道 PXIe 源表

具備高速響應與彈性量測範圍的單通道源測模組，可與多機箱環境無縫整合，滿足動態負載與元件測試需求。

規格數據：±200 V | DC ±1 A (Pulse ±3 A) | 解析度 100 nV / 100 fA | 20 W

S2016C
Single-Channel PXIe SMU(Source Meter Unit)

NEXUSTEST S2016C 單通道 PXIe 源表

專為微小電流與奈安培級量測強化的單通道 PXIe 模組，支援多模組硬體高速同步，是光電與半導體元件量測的可靠利器。

規格數據：±200 V | DC ±1 A (Pulse ±3 A) | 解析度 100 nV / 1 fA | 20 W

S2017C
Single-Channel PXIe SMU(Source Meter Unit)

NEXUSTEST S2017C 單通道 PXIe 源表

兼具高輸出範圍與高解析度的單通道模組，支援標準 SCPI 指令與 PXIe 高速資料傳輸，方便快速整合至自動化 ATE 系統中。

規格數據：±200 V | DC ±1 A (Pulse ±1 A) | 解析度 100 nV / 0.1 fA | 20 W

S0342C
4-Channel PXIe SMU(Source Meter Unit)

NEXUSTEST S0342C 4通道 PXIe 源表

單一 PXIe 模組內建 4 個獨立高精度源測通道。具備靈活的輸出與高靈敏度量測能力，配合 PXIe 高速觸發背板，輕鬆對接多端子半導體元件與晶體管特性分析。

規格數據：±30 V | DC ±500 mA (Pulse ±500 mA) | 解析度 60 µV / 100 pA | 3 W

S2019C
4-Channel PXIe SMU(Source Meter Unit)

NEXUSTEST S2019C 4通道 PXIe 源表

專為 ATE 產線與高密度邏輯元件測試設計的 4 通道 PXIe SMU 模組。提供優異的通道間隔離與高速數據轉移能力，顯著提升平行測試吞吐量。

規格數據：±40 V | DC ±500 mA (Pulse ±1 A) | 解析度 1 µV / 1 pA | 4 W

S2014C
12-Channel PXIe SMU(Source Meter Unit)

NEXUSTEST S2014C 12通道高密度 PXIe 源表

極致的高密度通道設計！單一模組提供高達 12 個獨立源測通道，專為大規模平行測試（Massive Parallel Testing）與光電/雷射陣列產線設計，實現極高效能的 ATE 測試成本優化。

規格數據：±10 V | DC ±50 mA (Pulse ±50 mA) | 解析度 1 µV / 1 pA | 0.5 W

🔧 需要規劃 PXIe 機箱配置或客製化多通道源表系統嗎？

若您的專案需要評估上面 8 款 PXIe 源表模組的搭配與系統整合，歡迎隨時聯絡凱宏技術團隊！

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🛠️ 為什麼選擇凱宏？我們的 PXIe 系統整合優勢

在 PXIe 模組化自動化測試中，硬體背板只是起點，「高速資料傳輸與多通道軟硬體同步」才是設備成功上線的關鍵。凱宏科技 (TEMPOint) 擁有豐富的 PXIe 系統整合經驗，我們深知工程師在建置 ATE 產線時面臨的挑戰：

⚡ PXIe 高速匯流排與硬體同步

充分利用 PXIe 平台的背板觸發與高速匯流排優勢，實現多模組、多通道的零時差低延遲同步量測，大幅提升產線測試吞吐量。

🔌 ATE 自動化架構與高密度整合

針對多通道半導體與光電元件，提供高密度（如 12 通道 S2014C）機箱配置與客製化針卡/治具交握介面，節省寶貴的廠房空間。

🔬 光電熱系統全方位串接

可將 PXIe 源表模組與光學積分球、雷射溫控器（TEC）及光譜儀無縫串接，打造專屬於 VCSEL 與光通訊元件的高效平行測試系統。

🚀 Developer-Ready 開發支援與軟體整合

針對 PXIe 模組化儀器，凱宏技術團隊提供專業的 **LabVIEW 系統整合開發支援** 與完整 SDK，助您快速打造高效能的自動化量測程式。

📦 完善的軟體與開發者資源：

  • LabVIEW 整合支援： 提供高效率的多通道 PXIe 儀器控制架構與客製化專案開發。
  • 多語言 SDK 支援： 涵蓋 C#、Python 等主流開發環境的指令集與範例。
  • 快速佈署： 免去從零開始摸索底層驅動的痛苦，加速產線 ATE 軟體上線時程。