NEXUSTEST S3022F 高精度雙通道桌上型源表 – 凱宏科技

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NEXUSTEST S3022F 雙通道桌上型源表 (SMU)

雙通道高精度源測單元 (Dual-channel SMU)

BENCHTOP SOURCE MEASURE UNIT SERIES

NEXUSTEST S3022F 高精度雙通道桌上型源表
(雙通道 SMU 源測單元、IV 特性分析與硬體同步)

凱宏科技全新引進 NEXUSTEST S3022F 雙通道桌上型源表（SMU，即同時具備精密電源供應與高靈敏電表的源測單元）。它能在一機之內提供獨立的雙通道輸出，精準控制電壓與電流，同時同步高靈敏度地量測極微小的電氣響應。本機支援高達 ±200 V、±3 A (DC) 與脉冲 10 A 輸出，並具備 100 fA / 100 nV 的超高量測解析度及 1M ADC 取樣率，是進行多通道半導體元件與光電元件 IV（電流-電壓）特性分析的頂尖利器。

⭐ 核心優勢：雙通道獨立源測整合，支援 1M 取樣率與純硬體高速多機同步，完美應對複雜半導體測試與多通道 ATE 整合。

S3022F 雙通道源表之核心特色與亮點

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產品功能亮點 (Key Highlights)

  • ✅ 雙通道獨立源測 (Dual-channel)： 具備雙通道獨立供電與高精度量測能力，大幅提升多端子元件或陣列測試效率。
  • ✅ 寬廣源測範圍 (High Range)： 提供高達 ±200 V、±3 A (DC) 以及脉冲 10 A 的強大動態輸出範圍。
  • ✅ 超高量測解析度 (High Resolution)： 最小量測解析度可達 100 fA 與 100 nV，精準捕捉奈安培級的微小漏電流。
  • ✅ 高取樣率與硬體同步： 支援 1M ADC 取樣率與純硬體高速多機同步，實現多通道低延遲同步量測，無縫對接自動化 ATE。

S3022F 技術規格表 (Specifications)

NEXUSTEST S3022F 規格摘要表
設備類型 雙通道桌上型源表 / 源測單元 (Dual-channel SMU – Source Measure Unit)
電壓/電流輸出範圍 ±200 V, ±3 A (DC), ±10 A (脉冲)
量測解析度 電流最小 100 fA / 電壓最小 100 nV
ADC 取樣率 支援高達 1M ADC 取樣率
同步與通訊 單機與多機純硬體高速同步 (低延遲多通道同步)
主要應用領域 多端子半導體元件分析、雙通道 IV 量測、光電與雷射元件測試、功率半導體、科研實驗室與 ATE 自動化產線

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